Эффекты, Связанные С Ограниченной Геометрией, В Нанокомпозитах На Основе Мезопористых Матриц 2d-Sba-15 И 3d-Sba-15, Содержащих Наночастицы Нитрита Натрия

Abstract

The temperature dependences of the ferroelectric order parameter for nanostructured sodium nitrite on heating and cooling have been obtained from the analysis of the temperature evolution of diffraction spectra of neutron scattering on nanocomposites, produced by embedding of sodium nitrite into the pores of the mesoporous matrices 2D-SBA-15 (average pore diameter 69 (4) Å) and 3D-SBA-15 (average pore diameter 94 (5) Å ). It is shown that on heating the phase transition from the ferroelectric phase to the paraelectric one occurs at TC = 433 ± 1 K for both nanocomposite materials. The sizes of nanoparticles in both nanocomposites are determined and it is established that their size decreases on heating at approaching to the ferroelectric phase transition temperature. Temperature hysteresis (~ 15–20 K) have been found in the temperature dependence of the order parameter between heating and cooling regimes.

Алгоритм Предварительного Анализа Дифракционных Спектров Для Нанокомпозитных Материалов С Примесью Массивной Фракции

“…), может присутствовать примесь массивного материала, которая будет существенно искажать общую картину наблюдаемых явлений. Так, например, в работе [1] было показано, что наблюдаемый в эксперименте температурный гистерезис в поведении параметра порядка в НКМ, изготовленных на основе порошков пористых молекулярных сит 2D-SBA-15 и 3D-SBA-15, содержащих внедренный в поры сегнетоэлектрик NaNO2, связан не только с размерными эффектами и свойствами самой матрицы, но и с наличием примеси массивного нитрита натрия порядка (по уточненным данным, полученным методом дифференциальной сканирующей калориметрии, а также после применения изложенной в настоящей работе процедуры) около 20% от общего содержания NaNO2 в образце. Наличие примеси массивного материала зачастую требует проведения полномасштабного дифракционного эксперимента и полнопрофильного анализа полученных дифрактограмм, что не всегда возможно, особенно на стадии приготовления НКМ.…”