No abstract

The primary aim of manufacturing industry is to reduce manufacturing costs to the level that is as low as possible without reducing the quality of products. In the machining process of metal parts and features, smart milling process is being projected for materials removal process of both metal and non-metal with complex forms and finishing well. Measuring a quality of an efficient milling process is normally to be a base on the quality of the finished surface roughness. The affect several attributes of components of the surface roughness, such as ability to distribute the lubricant, load bearing capacity, heat transmission, light reflection, the contact causing surface friction, load bearing capacity, light reflection, coating or resisting fatigue with the aim to increase the quality of machined products and to reduce the cost of production in manufacturing. These can be achieved by determining the parameters of the metal cutting and machining process correctly and accurately. In this review paper, a comparative study is proposed in the form of regression method that is able to predict the surface roughness at several cutting parameters such as spindle revolution, cutting speed, feeding speed, depth of cut (DOC), length of cut (LOC), helix angle and nose radius of cut.

No abstract

No abstract

Nanoteknologi dan nanometrologi adalah dua bidang keilmuan yang tidak bisa dipisahkan. Perkembangan pesat pada penelitian yang menghasilkan produk nanoteknologi tentunya membutuhkan nanometrologi untuk menjamin kontrol kualitasnya. Tren pengembangan nanoteknologi saat ini terus mengalami peningkatan di seluruh dunia, termasuk di Indonesia. Indonesia sebagai negara dengan potensi pasar yang besar memiliki bahan baku untuk memproduksi material nano dan menjadikannya memiliki posisi yang diperhitungkan di dunia. Puslit Metrologi LIPI sebagai lembaga metrologi nasional memiliki peran untuk mengembangkan ketertelusuran nanometrologi di Indonesia. Makalah ini membahas mengenai pentingnya uji profisiensi pada bidang nanometrologi yang dilakukan dengan mengacu pada uji banding terdahulu oleh negara-negara yang tergabung dalam BIPM, terdiri atas berbagai jenis artefak, yaitu line width standards, step height standards, line scales, 1D gratings, 2D gratings, dan nano particle. Di Indonesia, kelompok penelitian nanometrologi dari Puslit Metrologi LIPI menyelenggarakan uji profisiensi untuk menguji validitas alat ukur nano yang digunakan di institusi penelitian. Berdasarkan hasil penelitian sebelumnya, uji profisiensi dilakukan pada alat ukur scanning electron microscope (SEM) yang paling banyak digunakan dan penjaminan ketertelusuran nanometrologi dilakukan dalam bidang dimensi. Uji profisiensi dirancang mengacu pada pengujian yang dilakukan Working Group Dimensional Metrology CCL Nano4 (WGDM CCL Nano4).