Аннотация. В статье предлагается компьютерная модель и описание метода использования электромагнитных волн с длиной 0,1-1 мм для выявления внутренних дефектов изделий, выполненных по аддитивным технологиям. С помощью предложенной модели демонстрируется возможность бесконтактного неразрушающего контроля качества по дифракционным картинам.В настоящее время аддитивные технологии, и в частности печать на трехмерных принтерах, используют для получения изделия материалы, многие из которых свободно пропускают терагерцовое излучение (частота 3·10 11 -3·10 12 Гц, длина волны 0,1-1 мм). В то же время дефекты, возникающие в изделиях при аддитивном производстве, имеют размеры того же порядка (0,1-1 мм), что и терагерцовые волны. Следовательно, при облучении изделий с такими дефектами монохромным миллиметровым излучением будет возникать дифракция Френеля.Это позволяет использовать дифракционный метод контроля качества изделий, выполненных методом трехмерной печати. В статье описаны схема проведения контроля, алгоритм моделирования дифракционных картин с использованием выражения Релея -Зоммерфельда и компьютерная программа, реализующая указанный алгоритм. Приведены результаты определения размеров и расположения дефектов в изделиях по дифракционным картинам.Рассматривается компьютерная модель такого дифракционного метода, который может быть реализован в виде аппаратно-программных средств, позволяющих автоматизировать процесс контроля, обеспечить его низкую себестоимость, безопасность (учитывая свойства электромагнитного излучения указанного диапазона длин волн) и может конкурировать с методами электромагнитной и звуковой томографии.Ключевые слова: аддитивная технология, трехмерная печать, терагерцовое излучение, дифракционный метод, неразрушающий контроль, компьютерное моделирование, обработка изображения.1. Введение. В настоящее время все большую роль в производ-стве изделий различного назначения играет использование аддитивных технологий. В общем смысле под аддитивной технологией понимается технология изготовления изделий послойным формированием их струк-туры [1]. Сегодня существует множество способов «послойного форми-рования» изделия при его изготовлении по аддитивной технологии, при этом наиболее распространенными являются следующие способы:− Частным случаем аппаратной реализации аддитивных техноло-гий являются 3D принтеры, реализующие указанные способы при трехмерной печати изделий. Данная технология позволяет изготовить детали и даже конструкцию, предварительно разработанную с помо-щью трехмерного компьютерного моделирования формы с заданными в электронном виде геометрическими параметрами и характеристика-ми и при необходимости различающимися по структуре и физико-химическим характеристикам слоями. В отличие от традиционных машиностроительных способов при такой технологии окончательное изделие получается не удалением лишнего материала (обработка реза-нием) и не формованием однородной структуры с целью получения требуемых контуров (литьё, обработка давлением и т.д.), а наращива-нием (напылением) порошкообразного или жидк...
Представлен метод автоматического поиска локальных максимумов распреде-ления интенсивности светового сигнала в изображении дифракционной карти-ны. Предлагается "рассекать" исходный график распределения интенсивности аппроксимирующей функцией для средних значений, после чего искомые ди-фракционные максимумы будут лежать выше аппроксимирующей функции, что позволяет находить их координаты любым алгоритмом поиска максимума для непрерывного участка. Найденные координаты максимумов позволяют опреде-лять геометрические параметры структуры материалов по методу двойного фу-рье-преобразования. Таким образом, метод может быть применен для решения задач автоматического контроля качества. Ключевые слова: локальные максимумы, структура, преобразование Фурье, дифракционная картина, контроль качестваВведение. Существенное влияние на состояние элементов изделий оказывают парамет-ры технологического процесса производства, в рамках которого возможно применение раз-личных методов неразрушающего контроля качества (рентгеновского, ультразвукового, вих-ретокового, акустического, оптического и т.д.) [1] для анализа геометрических параметров. Метрологические требования к методам контроля качества приведены в работе [2].Наиболее перспективны оптические методы определения геометрических параметров периодических структур материалов [3] с использованием дифракционных картин (как полу-ченных при освещении образца пучком монохромного света, так и рассчитанных с использо-ванием интеграла Френеля-Кирхгофа), обладающие такими преимуществами, как высокая скорость измерений, бесконтактность, высокая точность. Аналогичные методы могут быть применены и для определения параметров поверхностей с периодической структурой различ-ных промышленных изделий [4]. Средние значения этих геометрических параметров позво-ляют оценить физические и технологические характеристики исследуемых образцов и кон-тролировать их качество.Для измерения линейных геометрических расстояний между периодическими элемен-тами структуры текстильных материалов предложено использовать "двойное фурье-преоб-разование" [5][6][7], заключающееся в получении вторичной дифракционной картины структу-ры материала и определении расстояний между соседними нитями по расстояниям между дифракционными максимумами (максимумами интенсивности) в расчетной дифракционной картине.Описание предлагаемого метода. Выполняется цифровая фотография образца (рис. 1, а) с поверхностной периодической структурой. На эту фотографию накладывается световое пятно (рис. 1, б) с интенсивностью, распределенной по экспоненциальному закону, что соот-ветствует освещению образца лучом лазера. Затем по полученному цифровому изображению
scite is a Brooklyn-based organization that helps researchers better discover and understand research articles through Smart Citations–citations that display the context of the citation and describe whether the article provides supporting or contrasting evidence. scite is used by students and researchers from around the world and is funded in part by the National Science Foundation and the National Institute on Drug Abuse of the National Institutes of Health.
customersupport@researchsolutions.com
10624 S. Eastern Ave., Ste. A-614
Henderson, NV 89052, USA
This site is protected by reCAPTCHA and the Google Privacy Policy and Terms of Service apply.
Copyright © 2024 scite LLC. All rights reserved.
Made with 💙 for researchers
Part of the Research Solutions Family.