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This paper describes an evaluation of the use of a scanning electron microscope to perform a rapid total analysis under secondary electron image conditions using a commercial energy dispersive X‐ray analyser. Problems encountered with overlapping intensity peaks and interference by the solid state Si (Li) detector are discussed. Elements heavier than sodium are detectable in metallic and geological samples and the total analysis of oxides requires only pure elements as standards.

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In diesem Artikel wird als Beitrag zur Elektronenstrahlmikroanalyse eine quantitaive röntgenographische Analyse von Phasen in polierten Anschliffen von Silikatproben beschrieben. Für die energiedispersive Messung der Röntgenstrahlung ist das Raster Elektronenmikrosk op mit einem Halbleitermessplatz und für Die Bilderzeugung mit einem Halbeitermessplatz und fü die Genauigkeit der Anlage und die damit erreichbare Nachweisgrenze werden bestimmt. Die Berechung der Konzentration wied nach einer von Salter vorgeschlagenen vorschrift mit Hilfe von binären Oxidsystemen und renien Oxiden als Standardproben berechnet. Als analytisches Bisipiel für die Elektronenstrahlmikroanalyse wurde ein Zementklinker gewählt.