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Thin indium films of thickness ranging from 15 to 100 nm are deposited onto crystalline mica substrates under a pressure of 1.333 x lo-* Pa. Using ellipsometry the real and imaginary parts of dielectric constant and energy loss function -1m ( 1 /~) and -1m ( 1 / (~ + 1)) are calculated. Low energy peaks are interpreted in terms of interband transitions while high-energy peaks are interpreted in terms of surface plasmon oscillations. Dunne Indiumschichten mit einer Dicke zwischen 15 und 100 nm werden auf kristallinen Glimmersubstraten unter einem Druck von 1,333 x P a aufgebracht. Mittels Ellipsometrie werden Real-und Imaginiirteil der Dielektrizitiitskonstante und Energieverlustfunktionen -1m (1/e) und -Im ( 1 / (~ + 1)) berechnet. Die Niederenergiemaxima werden mit Interbandiibergiingen interpretiert, wiihrend die Hochenergiemaxima mit Oberfliichenplasmonoszillationen erklirt werden.