A, 1 1~s~) arid K. KOHRA The kinematical and dynaniical component's of diffracted X-rays from perfect and mechanically dsinsged silicon single crystals are separately measured in t.he vicinity of the reciprocal lattice point using a triple crystal arrangement of ( j -n , --n, +n) setting. I n the case of a perfect' crystal, besides the normal dynamical diffraction, a broad and weak hump due to the lattice vibration is observed a t the scattering vector deviation as small as 2 x lo3 cni-l. For crystals with lapped and scratched surface a noticeable change of the int>ensity curves, i.e. a change! of the equal-intensity coiit,our in the reciprocal space, is observed.Die kinematischen und dynamischen Komponenten der gestreuten R,ontgenstrahlen von perfekten und niechanisch gestorten Siliziumeinkrist'ailen werden in der h'ahe von reziproken Gitterpunkten mit einem Dreikristalldiffraktometer in (+n, -I $ , + n ) Anordnang gemessen. I m Fall des perfekten Kristalls wird aul3er der normalen dynaniischen Beugting, ein breit.er und schm6chere.r Bnckel der Kurve infolge der Gitterschwingung bei Abweichungen des Streuvektors von ctwa 2 x lo3 cm-1 beobacht'et. Fur Kristalle mit polierten und geritzten Oberflachen wird eine nierkliche Anderung der Intensitatskurve, namlich eine anderung der Konturen gleicher Intensitgt im reziproken Gitterraum, beobachtet.

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