Envelope functions for the reflection and transmission spectra of multilayer structures are determined. Analytical expressions for the phase thicknesses of two arbitrary layers ensuring zero reflectance for the whole transparent structure are found with the aid of those envelopes.

We have found analytical expressions for the envelopes of maxima and minima of interference reflection and transmission spectra for both transparent and absorbing two-and three-layer structures under the conditions of arbitrary light incidence and polarization state. General regularities for the shape of those spectral envelopes are established, depending on the optical thicknesses of constituent layers.

No abstract

No abstract

Запропоновано спрощений метод проектування дво-i трисмугових оптичних фiльтрiв iз використанням двох рiзних матерiалiв. Його основна перевага це використання математично простих спiввiдношень для визначення фазової товщини двох симетричних шарiв, якi забезпечують появу двох або трьох смуг пропускання у смузi високого вiдбивання фiльтра. Запропонований метод дає змогу для двосмугового фiльтра довiльно вибирати спектральне положення обох смуг пропускання i їх ширину з урахуванням дисперсiї показника заломлення, що важливо для практичного використання.Ключовi слова: багатошарова структура, двосмуговий фiльтр, трисмуговий фiльтр, умови просвiтлення.