При достаточно большом числе исследований, посвященных образованию инея на холодных поверхностях, достоверных данных об изменениях плотности слоя инея ρ и сравнительно мало. Наиболее изученными являются процессы инееобразования на плоских поверхностях. В статье показаны значительные расхождения результатов расчета по эмпирическим формулам при одинаковых исходных данных. Расчетная плотность ρ ир , найденная по времязависящим методикам, сопоставлялась с экспериментально полученными значениями ρ иэ . Степень совпадения расчетных и экспериментальных данных оценивалась по среднему значению отношения (ρ ир/ ρ иэ ) ср и среднему квадратичному отклонению (СКО) в пяти вариантах исходных данных. Она оказалась невысокой по всем 10 методикам. Чтобы добиться лучшего совпадения ρ ир и ρ иэ , выполнен регрессионный анализ исходных данных по упомянутым пяти вариантам. Коэффициенты выбранных уравнений регрессии и показатели степени совпадения ρ ир и ρ иэ приводятся в таблицах статьи и могут применяться в инженерной практике. По результатам анализа отмечается: недостаточное количество опытных данных о плотности ρ иэ при обмерзании даже пластин; целесообразность выбора вида уравнения при обобщении каждого массива исходных данных.Ключевые слова: охлаждаемые поверхности, образование инея, плотность слоя, опытные и расчетные данные.
scite is a Brooklyn-based organization that helps researchers better discover and understand research articles through Smart Citations–citations that display the context of the citation and describe whether the article provides supporting or contrasting evidence. scite is used by students and researchers from around the world and is funded in part by the National Science Foundation and the National Institute on Drug Abuse of the National Institutes of Health.
customersupport@researchsolutions.com
10624 S. Eastern Ave., Ste. A-614
Henderson, NV 89052, USA
This site is protected by reCAPTCHA and the Google Privacy Policy and Terms of Service apply.
Copyright © 2025 scite LLC. All rights reserved.
Made with 💙 for researchers
Part of the Research Solutions Family.