Анотация. Выборки экспериментальных измерений содержат информацию о состоянии автоматизированных объектов и систем. Путем оценки и сравнения их средних значений, выборочных дисперсий, гистограмм решаются задачи наблюдения и контроля. Трудности имеют место, если выборки короткие и статистические закономерности неизвестны. Учитывая современные возможности аналого-цифрового преобразования и компьютерной обработки экспериментальных выборок измерений, предлагается проверять гипотезы о статистической однородности коротких выборок измерений путем определения среднего квадрата разности их дискретных эмпирических функций распределения вероятностей, сформированных по экспериментальным выборкам. Это аналог критерия Андерсона. Предложен также дискретный аналог критерия Смирнова-Крамера-фон Мизеса. Проведены вычислительные эксперименты, подтверждающие гипотезу, о том, что дискретные модели функции распределения вероятности и предложенный дискретный средний квадрат разности по информативности не отличается от критерия Андерсона и критерия Смирнова-Крамера-фон Мизеса, но значительно проще при практическом применении в задачах проверки гипотез о статистической однородности коротких выборок экспериментальных измерений. Ключевые слова: информационные технологии, аналого-цифровое преобразование, статистическая однородность, дискретные критерии однородности. Вступ. Измерение-это основной источник информации о состоянии и качестве разрабатываемых и модернизируемых технических объектов и технологических процессов. Измеренные показатели их характеризующие, являются случайными величинами. Несмотря на большое число методов неразрушающего контроля (оптический, акустический, вибрационный, электромагнитный, интерферо-метрический, термометрический, радиационный, психометрический) и многообразие видов объектов и технологических процессов, выборки измерений их параметров описываются двумя обобщенными классами математических ��������������������������������� ��Огоренко В.В., Клименко С.В., Астахов Д.С., 2020� «Системні технології» 4 (129) 2020 «System technologies» ISSN 1562-9945 (Print) ISSN 2707-7977 (Online)

No abstract