С использованием атомно-силовой микроскопии и избирательного химического травления предложен способ измерения толщины блочных пленок. Предложенный способ апробирован для тонких пленок висмута на слюде, полученных методом термического испарения в вакууме. DOI: 10.21883/FTP.2017.07.44631.17

Для улучшения структуры тонких пленок висмута, получаемых методом термического испарения в вакууме, апробировано использование в качестве подложки ансамбля одинаково ориентированных монокристаллических островков висмута, сформированных на пластинах слюды. Ансамбль островков формировался путем химического травления монокристаллической пленки висмута толщиной 1 мкм, полученной зонной перекристаллизацией под покрытием. Методами рентгеноструктурного анализа, атомно-силовой микроскопии и методом дифракции отраженных электронов в сканирующем электронном микроскопе исследована структура полученных пленок. DOI: 10.21883/FTP.2017.07.44628.14