Методом магнитометрии проведено сравнительное исследование кривых намагниченности сплошной и пористой многослойной пленки Pd 10nm /[Co 0.3nm /Pd 0.55nm ] 15 /Pd 2nm , осажденной на темплат анодного TiO 2. На основании сопоставления зависимостей коэрцитивной силы HC от угла θ между осью легкого намагничивания и направлением внешнего магнитного поля H с теоретическими зависимостями HC (θ) для перемагничивания путем движения доменных стенок (по модели Кондорского) и вращения магнитных моментов (по модели Стонера−Вольфарта) выявлены различия в механизмах перемагничивания двух указанных типов пленок. Обсуждается взаимосвязь между различием в морфологии сплошной и пористой пленок и выявленной сменой механизма перемагничивания, а также изменениями значений HC и рассчитанных констант магнитной анизотропии. Работа выполнена в рамках Государственной программы научных исследований " Физическое материаловедение, новые материалы и технологии"(задание 2.44), договора Ф16В2-004 с БРФФИ (Беларусь), гранта 2014/13/N/ST8/00731 National Science Centre (NCN, Poland).