2020
DOI: 10.1109/tthz.2020.2980442
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

A Simplified Nicolson–Ross–Weir Method for Material Characterization Using Single-Port Measurements

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
3
1
1

Citation Types

0
10
0
3

Year Published

2021
2021
2023
2023

Publication Types

Select...
5
2
2

Relationship

0
9

Authors

Journals

citations
Cited by 29 publications
(13 citation statements)
references
References 15 publications
0
10
0
3
Order By: Relevance
“…Основная идея способа заключается в измерении комплексного коэффициента пропускания (S21) и комплексного коэффициента отражения (S11), когда тестовый сигнал проходит через замкнутую линию передачи без образца тестируемого материала и с образцом. [8][9][10][11][12][13]. Для измерений используются векторные сетевые анализаторы (VNA).…”
Section: методика определения диэлектрических характеристик материалаunclassified
See 1 more Smart Citation
“…Основная идея способа заключается в измерении комплексного коэффициента пропускания (S21) и комплексного коэффициента отражения (S11), когда тестовый сигнал проходит через замкнутую линию передачи без образца тестируемого материала и с образцом. [8][9][10][11][12][13]. Для измерений используются векторные сетевые анализаторы (VNA).…”
Section: методика определения диэлектрических характеристик материалаunclassified
“…В частности, переход к частотам до 100 ГГц и выше обеспечит повышение объемов передачи данных между спутниками. Это приведет к развитию телекоммуникационных услуг нового поколения на базе космических систем [8,9]. В силу всего перечисленного изучение различных физических свойств этих материалов представляет как научный [10], так и практический интерес.…”
Section: Introductionunclassified
“…Основная идея метода заключается в измерении комплексных коэффициентов передачи (S 21 ) и отражения (S 11 ) при прохождении тестового сигнала через закрытую линию передачи (Рис. 2) без образца исследуемого материала и с образцом [4,5,6,7,8,9,10,11,12]…”
Section: нерезонансный методunclassified
“…However, in practice, there are inevitable air gaps between the surfaces of the SUT and the waveguide walls. This is a considerable restriction for measurements at millimeter-wave and above frequencies where the waveguide dimensions are of the order of millimeter or smaller [20].…”
Section: Introductionmentioning
confidence: 99%