Algorithm for the determination of intrinsic optical constants of metal films: application to aluminum

Abstract

Optical and electron-energy-loss data for evaporated-aluminum films have been critically analyzed and used in an iterative, self-consistent algorithm that represents a combination of the Kramers-Kronig analysis and the semiquantum-model application. The novel values of the intrinsic optical functions of aluminum have been determined in a wide spectral range from 200 µm (6.2 meV) to 0.12 nm (10 keV). These functions are in accordance with recent calculations by Lee and Chang [Phys. Rev. B 49, 2362 (1994)], with dc conductivity measurements, and are in good agreement with both peak positions and line widths obtained from electron-energy-loss experiments. The results are examined for internal consistency by inertial and f-sum rules.

Multi‐Spectral Materials: Hybridisation of Optical Plasmonic Filters and a Terahertz Metamaterial Absorber

“…The sample was illuminated by a mercury arc lamp and the transmission spectrum at normal incidence, T( ω ) , and refl ection spectrum at 30°, R( ω ) , were measured. The transmission spectrum was refractive index: n = 2.04 + i 0.16 and refractive index parameters, defi ned by Rakić, [ 36 ] were used to characterise the aluminium at THz frequencies. The observed simulated absorption magnitude of 71.2% at 1.94 THz is in good agreement with the measured SMM absorption spectrum.…”

Fundamentos e análise de tintas refratárias de alta emissividade

“…Portanto, a transição eletrônica só ocorre para frequências de onda muito altas, pois estas são mais energéticas. Para a alumina tal efeito ocorre no ultravioleta que apresenta uma faixa de comprimentos de onda de 0,4 μm a 0,01 μm [14], ou seja, 7,5.10 16 Hz a 3,0.10 16 , respectivamente, o que corresponde à faixa de energia de aproximadamente 3 eV a 124 eV [15]. Desta forma, a radiação infravermelha é incapaz de promover os elétrons presentes nos materiais cerâmicos em decorrência de sua energia associada que varia de aproximadamente 0,012 eV a 1,6 eV.…”

“…[ Figure 7: Refractive index (n) [16,17,19,20] as a function of the wavelength (λ) for the materials presented in the paper.] A refletividade para a onda não polarizada é a média aritmética da reflexão da parte polarizada paralelamente ( ) a interface de incidência e da reflexão da parte polarizada perpendicularmente (r L ) a mesma, como pode ser observado pela equação X.…”

“…9, fica evidente que um aumento da temperatura leva a uma maior quantidade de energia emitida e a um deslocamento do pico de emissão para Figura 8: Porcentagem de reflexão para uma radiação de 5 μm não polarizada (R) e suas componentes polarizadas perpendicularmente (r L ) e paralelamente ( ) ao plano de incidência, para o sistema aralumínio (Al) e o ar-alumina (Al 2 O 3 ), calculados pelas equações de S a X com base nos seus respectivos índices de refração (n) [16,17,19,20] e absorção (k) [16,17]. [16,17,19,20] and absorption indexes (k) [16,17].] Figura 9: Espectro de Planck da potência emissiva (W) em função da temperatura e do comprimento de onda (λ) [21].…”

“…Ainda, ao considerar a transmissão igual Figura 16: Refletividade de diversos materiais calculada pela equação X com base nos seus respectivos índices de refração (n) [16,17,19,20] e absorção (k) [16,17,19,28] para uma onda incidindo perpendicularmente à superfície.…”