2016 2nd International Conference on Intelligent Energy and Power Systems (IEPS) 2016
DOI: 10.1109/ieps.2016.7521887
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Analyzing probabilistic properties of electrical characteristics in the circuits containing stochastic load

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...

Citation Types

0
7
0
10

Year Published

2018
2018
2022
2022

Publication Types

Select...
7

Relationship

1
6

Authors

Journals

citations
Cited by 14 publications
(17 citation statements)
references
References 6 publications
0
7
0
10
Order By: Relevance
“…Вступ та постановка задачі досліджень. Стохастичні зміни еквівалентного електричного опору занурених у робочі рідини шарів металевих гранул (ШМГ) [1,2] є основною причиною нестабільності параметрів розрядних імпульсів у процесах їх іскро-та плазмоерозійної обробки [3][4][5]. Вони викликані великою кількістю можливих варіантів як одночасного, так і послідовного виникнення, еволюції, міграції і згасання плазмових каналів між поверхнями сусідніх гранул у їх шарі, до складу якого зазвичай входить від кількох сотень до десятків тисяч штук [5].…”
unclassified
See 1 more Smart Citation
“…Вступ та постановка задачі досліджень. Стохастичні зміни еквівалентного електричного опору занурених у робочі рідини шарів металевих гранул (ШМГ) [1,2] є основною причиною нестабільності параметрів розрядних імпульсів у процесах їх іскро-та плазмоерозійної обробки [3][4][5]. Вони викликані великою кількістю можливих варіантів як одночасного, так і послідовного виникнення, еволюції, міграції і згасання плазмових каналів між поверхнями сусідніх гранул у їх шарі, до складу якого зазвичай входить від кількох сотень до десятків тисяч штук [5].…”
unclassified
“…Електричні параметри (активний опір, ємність та індуктивність) елементів схеми заміщення ШМГ у робочій рідині з плазмовими каналами між їх поверхнями [16] проявляють не тільки стохастичні [1][2][3][4], але і нелінійні [17][18][19] та параметричні [20] властивості. Дотепер під час побудові стохастичних моделей еквівалентного електричного опору таких середовищ приймалися наступні спрощення: 1) опір вважався виключно активним, 2) вважалося, що протягом тривалості кожного розрядного імпульсу значення опору середовища залишалося постійним і змінювалося скачкоподібно під час проходження наступних імпульсів розрядного струму.…”
unclassified
“…Електророзрядні установки (ЕРУ) з ємнісними накопичувачами енергії (ЄНЕ) дають змогу створювати короткі розрядні струми в шарі струмопровідних (металевих або композитних) гранул для реалізації іскроерозійних технологій виробництва мікро-та нанорозмірних порошкових матеріалів з унікальними експлуатаційними властивостями [1][2][3], які залежать від електричних і динамічних характеристик імпульсних струмів ЕРУ [4,5], зокрема від величини та тривалості таких струмів у навантаженні (шарі гранул). Енергоефективність і продуктивність ЕРУ багато в чому залежать від стабільності електричного опору їх навантаження [6], який під час електроіскрового диспергування гранул може стохастично збільшуватись [7], змінюючи характер і збільшуючи тривалість режимів розряду ЄНЕ. Енергетично і технологічно найбільш ефективним режимом ЕРУ є коливальний розряд конденсатора з незначним (до 30 % за напругою) його перезарядом.…”
unclassified
“…In the electric discharge installations (EDI) with reservoir capacitors, in particular in the semiconductor (thyristor) installations for volumetric electro-spark dispersion (VESD) of the metals, the oscillatory discharge of capacitor with a small reverse recharge (less than 30 % in voltage) is the most efficient technologically and energetically mode of discharge through electric spark load [1][2][3][4][5][6]. In this case, there is a fast natural locking of the discharge semiconductor switch, which makes it possible to quickly carry out the subsequent charge of the capacitor and further its discharge trough the load [1,[4][5][6]. Thus, we can realize a high frequency of charge-discharge cycles and stability of the duration of discharge currents in the EDI load.…”
mentioning
confidence: 99%
“…At the same time the resistance of such load as a metal granular layer can stochastically increase several times during discharge. As a result, a so-called idle discharge trough the load, i.e., a long-term discharge with a low current without sparking can occur [1,4,[6][7][8]. Since the increase in active resistance of load decreases the Q-factor of the discharge circuit, then the oscillatory capacitor discharge transient can become aperiodic one, and discharge duration can increase many times.…”
mentioning
confidence: 99%