Anomalous Sensitivity of Deformation Dependence of Total Integrated Intensity of Dynamical Diffraction to Microdefects in Single Crystals

Molodkin, V. B.; Nizkova, A.I.; Lizunov, V. V.; Molodkin, V. V.; Kyslovskyi, Ye. M.; Vasylyk, Ya. V.; Reshetnyk, O. V.; Vladimirova, T. P.; Belotska, A. O.; Barvinok, N. V.

doi:10.15407/mfint.40.08.1123

Cited by 2 publications

(1 citation statement)

References 6 publications

Supporting

Mentioning

Contrasting

Unclassified

Order By: Relevance

“…Высокоэнергетические электроны проходят сквозь образец и образуют дефекты, равномерно распределённые по его глубине [9,14]. Чем больше доза облучения, тем больше относительная доля равномерно распределённых дефектов и тем более монотонным должен быть профиль распределения концентрации.…”

Section: теоретические модели диагностики монокристаллов с толщинами unclassified

Creation of the Integrated Dynamical Diffractometry Basics for Micro- and Nanoinhomogeneities of Crystal Structure with Defects and Disturbed Surface Layer

2017

Nanosist. nanomater. nanotehnol.

View full text Add to dashboard Cite

 2017 ІМÔ (Інститут металофізики ім. Г. В. Курдюмова НАН Óкраїни) Надруковано в Óкраїні. Ôотокопіювання дозволено тільки відповідно до ліцензії 262 В. Б. МОЛОДКИН, А. И. НИЗКОВА, Е. И. БОГДАНОВ и др. diagnostics of a profile of the inhomogeneous distribution of microdefects in single crystals. In particular, for the first time, the distribution profile for microdefects (precipitates and dislocation loops without restrictions on their sizes) over a depth of dynamically scattering layer of a single crystal is obtained. A principal possibility of kinetics determination is shown, and the kinetics of changing of such layer complex structure after high-energy electron processing is actually determined. Ключевые слова: рентгеновские лучи, полная интегральная интенсивность, динамическая дифракция, нарушенный поверхностный слой, крупные дефекты, асимметрия азимутальной зависимости. Ключові слова: Рентґенові промені, повна інтеґральна інтенсивність, динамічна дифракція, порушений поверхневий шар, великі дефекти, асиметрія азимутальної залежности.

show abstract

Section: теоретические модели диагностики монокристаллов с толщинами unclassified

Creation of the Integrated Dynamical Diffractometry Basics for Micro- and Nanoinhomogeneities of Crystal Structure with Defects and Disturbed Surface Layer

2017

Nanosist. nanomater. nanotehnol.

View full text Add to dashboard Cite

show abstract

Heuristic Model of Deformation Dependence of Total Integrated Intensity of Dynamical Diffraction for Diagnostics of Single Crystals with Defects of Several Types

Molodkin¹,

Nyzkova²,

Lizunov³

et al. 2018

Metallofiz. Noveishie Tekhnol.

View full text Add to dashboard Cite

show abstract

Anomalous Sensitivity of Deformation Dependence of Total Integrated Intensity of Dynamical Diffraction to Microdefects in Single Crystals

Cited by 2 publications

References 6 publications

Creation of the Integrated Dynamical Diffractometry Basics for Micro- and Nanoinhomogeneities of Crystal Structure with Defects and Disturbed Surface Layer

Creation of the Integrated Dynamical Diffractometry Basics for Micro- and Nanoinhomogeneities of Crystal Structure with Defects and Disturbed Surface Layer

Heuristic Model of Deformation Dependence of Total Integrated Intensity of Dynamical Diffraction for Diagnostics of Single Crystals with Defects of Several Types

Contact Info

Product

Resources

About