Application of the STRESS TEST Method for Quality Control of Electrolytic Capacitors and Capacitors with a Double Electric Layer

Abstract

В статье рассматривается проблема подтверждения длительной безотказности современного конденсаторостроения в короткие сроки, а именно, оксидно-электролитических алюминиевых конденсаторов, танталовых объемно-пористых конденсаторов и конденсаторов с двойным электрическим слоем. Особое внимание уделяется эксплуатационным параметрам конденсаторов - емкости и эквивалентному последовательному сопротивлению. Проведено исследование длительной безотказности оксидно-электролитических алюминиевых конденсаторов (3000 ч), танталовых объемно-пористых конденсаторов (24 000 ч) и конденсаторов с двойным электрическим слоем (600 ч), получены статистические данные распределения емкости и эквивалентного последовательного сопротивления. Для уменьшения времени испытаний на длительную безотказность был использован ускоренный метод испытаний на надежность стресс-теста. Анализ результатов испытаний конденсаторов на длительную безотказность и методом «Стресс-тест» показал, что применение метода «Стресс-тест» допустимо при испытании объемно-пористых танталовых конденсаторов и оксидно-электролитических алюминиевых конденсаторов, так как прослеживается аналогичный характер изменения электрических параметров, как после проведения испытаний на длительную безотказность. Однако применение метода «Стресс-тест» для конденсаторов с двойным электрическим слоем не представляется возможным в связи с отличной структурой и требует дополнительного подбора режимов проведения испытаний.