A systematic study of acceptors incorporated by diffusion is carried out on refined melt-grown ZnTe. The properties of five substitutional acceptors are investigated by low-temperature photoluminescence. Since the binding energy of excitons on neutral acceptors is almost unaffected by the central cell potential, the neutral acceptors are identified by the two-hole transitions which give accurate values of acceptor ionization energies. The two dominant acceptors "b" at 61 meV and "a" a t 149 meV are identified as Lizn and CUZ,,, respectively, while the hole binding energies on Nazn, Bgz,, and Auzn are established as 62.8, 123, and 272 meV, respectively. These experiments show that all the relatively shallow acceptors involve impurities and not stoichiometric defects.Une Ctude systematique des accepteurs introduits par diffusion a 8t6 faite sur ZnTe. Les propriCtes de cinq accepteurs sont CtudiCes en photoluminescence. Comme 1'6nergie de liaison des excitons sur les accepteurs neutres n'est pas affectee par le potentiel de cellule centralc, les accepteurs sont identifies gr&e aux transitions deux-trous qui donnent une valeur tr&s precise de la profondeur de chaque niveau. Les deux accepteurs dominants: "a" ti 149 meV e t "b" B 61 meV sont attribuCs au lithium e t au cuivre en site zinc alors que les niveaux accepteurs introduits par Na, Ag e t Au sont respectivement ti 62.8, 123 e t 272 meV. L'ensemble de ces experiences montre que tous les accepteurs peu profonds mettent en jeu des impuretCs e t non des dbfauts de stoechiometrie.