Предложена структурная схема многоканального аналитического рентгеновского комплекса (МАРК) с ярким микрофокусным источником, обеспечивающая реализацию основных методов рентгеновской диагностики на базе единой автоматизированной системы. Сформулированы общие требования к параметрам источника для проведения комплексных измерений с помощью МАРК. Рассмотрены методы формирования различных типов пучков излучения на основе фокусирующей и дисперсионной рентгеновской оптики и организация рабочих станций. A structural scheme of a multi-channel X-ray analytical system with a bright microfocus source designed to implement the basic methods of X-ray diagnosis based on a single automated system is proposed. The general requirements to the parameters of the source for integrated measurements using multi-channel X-ray analytical system were developed. The methods of formation of various types of radiation beams based on the focusing and dispersive X-ray optics and the organization of workstations were considered. М етоды рентгеновской диагностики мате риалов и наноструктур являются во мно гих случаях основой аналитической базы современного высокотехнологичного производ ства и одним из основных инструментов при разработке новых материалов и изделий на их основе. При этом одна из главных задач диагно стики материалов заключается в получении наи более полной информации о свойствах исследуе мого или контролируемого объекта различными методами и сопоставлении полученных резуль татов. Современное рентгеновское приборострое ние предлагает использовать специализирован ные аналитические системы для решения кон кретных измерительных задач: рентгеновскую флуоресцентную спектрометрию для опреде ления элементного состава; малоугловое рассе яние для определения параметров негомоген ных наноструктурированных объектов; спектро метрию поглощения для изучения энергетиче ской структуры глубоких уровней в материалах; дифрактометрию для определения структурных параметров и фазового анализа; проекционную микроскопию и томографию для визуализации внутренней структуры объектов; рефлектометрию для изучения слоистых наноструктур и границ раздела. Каждая из перечисленных систем имеет собственный источник излучения, измеритель ную платформу и программное обеспечение, и их объединение в единый измерительный комплекс невозможно по конструктивным соображениям.В качестве интегрированной аналитической системы можно рассматривать синхротронный центр [1,2], который включает ускорители электро нов, общее накопительное кольцо для электронов высокой энергии и встроенные в него ондуляторы, являющиеся источниками мощного рентгенов ского излучения. На выходе каждого из ондулято ров размещается специализированный измери тельный канал, длина которого может составлять десятки метров. Стабильный режим генерации может непрерывно поддерживаться несколько 1 Физический институт РАН им. П.Н.Лебедева / Lebedev Physical Institute of RAS 2 Национальный исследовательский университет "МИЭТ" / National research University "MIET" 3 Российский университет дружбы народов (РУДН) / Peopl...