2006
DOI: 10.1016/j.tsf.2005.07.313
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Comparative material study on RF and DC magnetron sputtered ZnO:Al films

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
2
1
1
1

Citation Types

2
34
1
1

Year Published

2007
2007
2015
2015

Publication Types

Select...
8
1

Relationship

1
8

Authors

Journals

citations
Cited by 120 publications
(38 citation statements)
references
References 7 publications
2
34
1
1
Order By: Relevance
“…The (0002) XRD peak in highly conductive and transparent AZO thin films prepared on glass substrates at temperatures below approximately 200 o C was always observed at higher angles than that in standard ZnO powder, irrespective of the deposition method used. This is consistent with an XRD peak position shift that not only was uncorrelated to the c-axis orientation, but also was attributable mainly to the difference of ion radius between Zn 2+ and Al 3+ , as published previously in many reports [46][47][48]. However, it should be noted that AZO thin films prepared with a higher c-axis orientation exhibited a tendency to have a higher Hall mobility.…”
Section: Influence Of Doped Impurity and Deposition Methods On Electrisupporting
confidence: 91%
“…The (0002) XRD peak in highly conductive and transparent AZO thin films prepared on glass substrates at temperatures below approximately 200 o C was always observed at higher angles than that in standard ZnO powder, irrespective of the deposition method used. This is consistent with an XRD peak position shift that not only was uncorrelated to the c-axis orientation, but also was attributable mainly to the difference of ion radius between Zn 2+ and Al 3+ , as published previously in many reports [46][47][48]. However, it should be noted that AZO thin films prepared with a higher c-axis orientation exhibited a tendency to have a higher Hall mobility.…”
Section: Influence Of Doped Impurity and Deposition Methods On Electrisupporting
confidence: 91%
“…31 For example, Hüp-kes et al and Kluth et al showed that the amount of oxygen added to the process gas strongly influences film properties. 32,33 Another of these unknown influence factors might be the target alumina concentration ͑TAC͒.…”
Section: Introductionmentioning
confidence: 99%
“…Серед таких технологій осадження плівок ZnO як піроліз [9], магнетронне розпилення [10], молекулярно-променева епітаксія [11], імпульсне лазерне осадження [12], хімічне осадження з парової фази [13] варто виділити метод магнетронного розпилення ( МР), який вирізняється наступними перевагами: ( і ) можливістю осадження плівок на холодну підкладку, (іі) високою адгезією плівки до підкладки, (ііі) однорідністю плівок по товщині при їх вирощуванні на великогабаритних підкладках [14]. Раніше досліджувався вплив на властивості легованих алюмінієм плівок ZnO: (і) технологічних параметрів магнетронного осадження ( температура підкладки [15], тиски кисню [16] та аргону [17], потужність магнетрону [18], ( іі) технологічних прийомів осадження (подвійне легування [19], вибір катодної системи [20], створення багатошарових плівок [21,22], підготовки поверхні [23] тощо) та (ііі) термічного відпалу щойно вирощених плівок [24,25].…”
Section: вступunclassified