1985
DOI: 10.1051/rphysap:01985002003020700
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Déformation cyclique in situ dans le microscope électronique à 200 kV. Présentation du porte-objet de fatigue

Abstract: 2014 Afin d'effectuer des essais de déformation cyclique à l'intérieur même du microscope électronique JEOL 200 CX, nous avons mis au point un porte-objet de déformation alternée de conception originale. Ce porte-objet à entrée latérale permet d'observer in situ les mécanismes microscopiques de la déformation plastique, à des vitesses comprises entre zéro et 0,4 03BCm.s-1, à des températures comprises entre 150 K et 350 K. Nous présentons également les résultats des premières observations faites à partir d'éch… Show more

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