2017
DOI: 10.1007/s00339-017-1057-4
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Electrical and optical properties of lanthanum oxide-based films prepared by electron beam evaporation

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
2

Citation Types

0
0
0
3

Year Published

2020
2020
2024
2024

Publication Types

Select...
4

Relationship

0
4

Authors

Journals

citations
Cited by 4 publications
(3 citation statements)
references
References 24 publications
0
0
0
3
Order By: Relevance
“…Хорошо известно, что пленки La 2 O 3 гигроскопичны, притягивают и удерживают молекулы воды из окружающей среды на поверхности, что влияет на транспортные свойства оксида лантана [9]. Как было показано нами в работе [10], структуры на основе поверхностно-гидрированных пленок оксида лантана (OH−La 2 O 3 ), напыленных на кремниевые подложки с n-типом проводимости (Al/OH−La 2 O 3 /n-Si), имеют отрицательную дифференциальную проводимость (ОДП), когда увеличение напряжения приводит к уменьшению тока. В данной работе этот эффект становится более заметным в пленках OH−La 2 O 3 на кремниевых под-ложках с дырочной проводимостью (p-Si).…”
Section: Introductionunclassified
See 2 more Smart Citations
“…Хорошо известно, что пленки La 2 O 3 гигроскопичны, притягивают и удерживают молекулы воды из окружающей среды на поверхности, что влияет на транспортные свойства оксида лантана [9]. Как было показано нами в работе [10], структуры на основе поверхностно-гидрированных пленок оксида лантана (OH−La 2 O 3 ), напыленных на кремниевые подложки с n-типом проводимости (Al/OH−La 2 O 3 /n-Si), имеют отрицательную дифференциальную проводимость (ОДП), когда увеличение напряжения приводит к уменьшению тока. В данной работе этот эффект становится более заметным в пленках OH−La 2 O 3 на кремниевых под-ложках с дырочной проводимостью (p-Si).…”
Section: Introductionunclassified
“…Аналогичные результаты получены для пленок толщиной 40 и 545 нм. Спектры оптического диапазона пленок ОН−La 2 O 3 на подложках SiO 2 имеют высокий коэффициент пропускания (90−80%) с оптическим краем, чувствительным к толщине пленки и условиям обработки [10]. Результаты показали, что ширина запрещенной зоны E g = 6.12 эВ уменьшается до 6.06 эВ с увеличением толщины пленки от 140 до 545 нм, тогда как толщина пленок после хранения в вакууме увеличивается по сравнению с толщиной только напыленной пленки, и уменьшается после термического отжига (см.…”
Section: Introductionunclassified
See 1 more Smart Citation