Abstract:In this study, we informed a systematic approach to obtain CuO films with and without TX-100 surfactant by the SILAR procedure. Morphological, structural and optical features of the CuO films were researched by metallurgical microscope, scanning electron microscopy, X-ray diffraction analysis and ultraviolet-visible spectrophotometry respectively with respect to concentrations of TX-100 agent. Metallurgical and scanning electron microscope photographs displayed that the morphology of the film surface was impressed by surfactant TX-100. X-ray diffraction patterns verified that all CuO films have monoclinic crystal lattice structure with preferential orientations of ( 1 11) and (111) planes. Ultraviolet-visible spectra demonstrated that the optical bandgap and transmittance values of the films were altered with TX-100 content.
Nanoyapılı CuO Filmlerin Fiziksel Performansının Surfaktan TX-100 Yoluyla GeliştirilmesiAnahtar Kelimeler Bakır Oksit (CuO), Triton X-100, XRD, Bant AralığıÖzet: Bu çalışmada TX-100 surfaktan içeren ve içermeyen CuO filmler sistematik bir yaklaşım gözeterek SILAR yöntemi yardımıyla elde edilmişlerdir. Elde edilen CuO filmlerinin morfolojik, yapısal ve optik özellikleri, TX-100 konsantrasyonuna bağlı olarak sırasıyla metal mikroskobu, taramalı elektron mikroskobu, X-ışını difraksiyon analizi ve ultraviyole-görünür spektrometresi ile incelendi. Metal ve taramalı elektron mikroskobu fotoğrafları, film yüzey morfolojisinin yüzey aktif madde TX-100 tarafından etkilendiğini ortaya koydu. X-ışını kırınım desenleri, tüm CuO filmlerinin (1 11) ve (111) düzlemlerin tercihli yönelimleriyle monoklinik kristal kafes yapısına sahip olduğunu doğruladı. Ultraviyole -görünür spektrum, filmlerin optik bant boşluğu ve geçirgenlik değerlerinin TX-100 içeriği ile değiştiğini gösterdi.