“…В настоящее время широко используются методы цифровой спекл-интерферометрии, в которых реализуется цифровая запись и обработка изображений спекл-структур, формирующихся как в плоскости сфокусированного изображения поверхности объекта, так и в расфокусированных областях, а также в ближней и дальней зонах дифракции света по отношению к объекту. Определение поперечного смещения (как изображений, так и спекл-структуры объектного поля) возможно с помощью прямого корреляционного анализа взаимно смещенных изображений [11][12][13][14] или путем анализа фазовых сдвигов комплексного пространственного спектра спеклструктур [3][4][5][15][16][17], в том числе путем анализа интерференционной картины в суммарном спектре смещенной и несмещенной спеклограмм -в дифракционном гало [3][4][5]16]. В этих методах упорядоченная пиксельная структура матрицы фотодетектора применяется в качестве средства прямых линейных измерений, а межпиксельные расстояния по ортогональным направлениям x d , y d используются в качестве рабочих мер длины [18].…”