2014
DOI: 10.1364/ao.53.002806
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Fast and noninterpolating method for subpixel displacement analysis of digital speckle images using phase shifts of spatial frequency spectra

Abstract: A fast noninterpolation method for calculating displacement of digital speckle images with subpixel precision was introduced. In this method, the precise displacement is obtained from phase shifts of spatial frequency spectra of two digital speckle images instead of digital correlation calculation. First, digital speckle images before and after displacement are windowed and fast Fourier transform is performed. Then, phase shifts of different spatial frequencies are linearly fitted in spectral space using the l… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
3

Citation Types

0
3
0
6

Year Published

2015
2015
2019
2019

Publication Types

Select...
6
2

Relationship

0
8

Authors

Journals

citations
Cited by 14 publications
(9 citation statements)
references
References 36 publications
0
3
0
6
Order By: Relevance
“…В настоящее время широко используются методы цифровой спекл-интерферометрии, в которых реализуется цифровая запись и обработка изображений спекл-структур, формирующихся как в плоскости сфокусированного изображения поверхности объекта, так и в расфокусированных областях, а также в ближней и дальней зонах дифракции света по отношению к объекту. Определение поперечного смещения (как изображений, так и спекл-структуры объектного поля) возможно с помощью прямого корреляционного анализа взаимно смещенных изображений [11][12][13][14] или путем анализа фазовых сдвигов комплексного пространственного спектра спеклструктур [3][4][5][15][16][17], в том числе путем анализа интерференционной картины в суммарном спектре смещенной и несмещенной спеклограмм -в дифракционном гало [3][4][5]16]. В этих методах упорядоченная пиксельная структура матрицы фотодетектора применяется в качестве средства прямых линейных измерений, а межпиксельные расстояния по ортогональным направлениям x d , y d используются в качестве рабочих мер длины [18].…”
Section: Introductionunclassified
See 2 more Smart Citations
“…В настоящее время широко используются методы цифровой спекл-интерферометрии, в которых реализуется цифровая запись и обработка изображений спекл-структур, формирующихся как в плоскости сфокусированного изображения поверхности объекта, так и в расфокусированных областях, а также в ближней и дальней зонах дифракции света по отношению к объекту. Определение поперечного смещения (как изображений, так и спекл-структуры объектного поля) возможно с помощью прямого корреляционного анализа взаимно смещенных изображений [11][12][13][14] или путем анализа фазовых сдвигов комплексного пространственного спектра спеклструктур [3][4][5][15][16][17], в том числе путем анализа интерференционной картины в суммарном спектре смещенной и несмещенной спеклограмм -в дифракционном гало [3][4][5]16]. В этих методах упорядоченная пиксельная структура матрицы фотодетектора применяется в качестве средства прямых линейных измерений, а межпиксельные расстояния по ортогональным направлениям x d , y d используются в качестве рабочих мер длины [18].…”
Section: Introductionunclassified
“…Однако, если смещение спекл-структуры меньше межпиксельного расстояния матрицы цифровой фотокамеры, регистрирующей спекл-структуру, такое смещение не разрешается путем прямого корреляционного анализа спекл-структур. В этом случае для расширения диапазона измерений методами цифровой спекл-интерферометрии в область меньших смещений необходимо или использовать матрицу с меньшим межпиксельным расстоянием, или применять специальные численные процедуры определения субпиксельных смещений спекл-структур [15,[19][20][21][22].…”
Section: Introductionunclassified
See 1 more Smart Citation
“…Формирование интерференционной картины в дифракционном гало дает возможность визуализировать сигнал и контролировать процесс измерения, если период интерференционных полос меньше размеров гало. Преобразование в частот-ную область позволяет получить измеряемые величины с субпиксельной точностью по распределению интен-сивности интерференционной картины дифракционного гало [8] смещенной спекл-структуры [9]. В реальных условиях анализ функции фазового набега затруднен из-за эффек-тов случайной пространственной модуляции, поэтому в [9] для анализа сигнала используются итерационные и интерполяционные вычислительные процедуры.…”
unclassified
“…Однородное поперечное смещение спекл-структуры мож-но определить с помощью методов цифровой спекл-фотографии по величине линейного фазо-вого набега, возникающего в поле комплексного пространственного спектра смещенной спекл-структуры [8], или путем анализа интерференци-онной картины, образующейся в дифракционном гало -в суммарном пространственном спектре исходной и смещенной спекл-структур [5][6][7]. При определении неоднородного смещения, если выделять области спекл-структуры, в кото-рых смещение квазиоднородно, также возмож-но применение методов двухэкспозиционной спекл-фотографии.…”
unclassified