Finite-element analysis of the shielded cylindrical dielectric resonator

Kooi, P.S.; Leong, M.S.; Prakash, A.L. Satya

doi:10.1049/ip-h-2.1985.0002

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“…No deviations greater than 2% were observed for f,, and 3% for the relative tuning range. Table 1 and sr = 37.0 has been examined elsewhere [3]. This is Sample 13 presented in Table 1.…”

Section: Practical Resultsmentioning

confidence: 99%

“…This is Sample 13 presented in Table 1. The theoretical and measured results obtained in [3] are compared with those obtained with the use of the present method in Table 2. The differences are not significant.…”

Section: Practical Resultsmentioning

confidence: 99%

“…Recently, Motohiro and Taga [ ; I showed that u, can be drastically altered within a 30-A transition thickness, while the film is growing. The resulting interface is optically transparent to normally incident ordinary-but not to extraordinary-plane waves, and therefore has polarizing properties [3]. Robbie et al [4] recently demonstrated that u, can be altered often and easily.…”

Section: Introductionmentioning

confidence: 99%

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MIC-environment dielectric resonator design and analysis

Mosso¹,

Podcameni²

1996

Microw. Opt. Technol. Lett.

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“…No deviations greater than 2% were observed for f,, and 3% for the relative tuning range. Table 1 and sr = 37.0 has been examined elsewhere [3]. This is Sample 13 presented in Table 1.…”

Section: Practical Resultsmentioning

confidence: 99%

Section: Practical Resultsmentioning

confidence: 99%

Section: Introductionmentioning

confidence: 99%

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MIC-environment dielectric resonator design and analysis

Mosso¹,

Podcameni²

1996

Microw. Opt. Technol. Lett.

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“…tric resonators in rectangular and cylindrical cavities [33,34], and inhomogeneously dielectric filled cavities [34], as well as structures containing asymmetrically located, partial-height or multilayer inhomogeneous cylindrical DRs [35]. A large variety of investigations about dielectric resonators using the Finite-Element method (FEM) [36][37][38][39][40] can be also found in the literature, as well as Finite Difference approaches in the time-domain (FDTD) [41][42][43][44] and in the frequency-domain (FDFD) [45]. Nevertheless, the use of this kind of segmentation methods to deal with these problems typically require high computational resources.…”

Section: Analysis Of Rectangular Cavities Loaded With a Dielectric Puckmentioning

confidence: 99%

“…A large variety of investigations about dielectric resonators using the Finite-Element method (FEM) [36][37][38][39][40] can be also found in the literature, as well as Finite Difference approaches in the time-domain (FDTD) [41][42][43][44] and in the frequency-domain (FDFD) [45]. Nevertheless, the use of this kind of segmentation 1.1 Motivation and state of the art 3 methods to deal with these problems typically require high computational resources.…”

Section: Introductionmentioning

confidence: 99%

Full-wave analysis and design of passive microwave and millimetre-wave devices based on dielectric-loaded cavity resonators

Raga¹

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A mis padres, a mis abuelas, mis hermanas, a Neus. AgradecimientosEl 2001 fue un año especial, un año de incertidumbres y mucha actividad. Recién terminada la carrera de físicas, las perspectivas de futuro abrían ante mí nuevos interrogantes. Había llegado el excitante y temido momento de tomar decisiones que presumiblemente cobrarían una relevancia crucial en mi vida. Traté de aprovechar todos los proyectos que tenía en mente sin mucho orden ni concierto. No tenía muy claro cuál acabaría siendo mi futuro profesional, pero estaba convencido de que alguno de los caminos que había escogido me llevaría a buen puerto. Y sin embargo, la casualidad me tenía reservada una sorpresa. La casualidad quiso que una mañana de enero, en la que me acerqué a la secretaría de la facultad, me fijase en un cartel que anunciaba una oferta de trabajo en un proyecto de investigación europeo. Para más información preguntad por Benito Gimeno, se leía. La casualidad también quiso que, a pesar de que el tema de investigación no encajaba en mis expectativas del momento, me animase a pasarme a hacerle una visita a aquel profesor a quien, y esto no por casualidad, valoraba mucho. De aquella visita recuerdo una imagen que se repetiría en numerosas ocasiones en años posteriores, la de un entrañable y divertido profesor sentado en su silla de investigador espacial al fondo de su despacho, tras unas gafas asombradas de todo lo que ocurre al otro lado de las lentes, y envuelto entre grandes papeles con enormes fórmulas matemáticas. Benito me explicó que, tantoél como Vicente, se habían embarcado en una colaboración científica con otras instituciones europeas. Ambos me ofrecieron la posibilidad de hacer una estancia de aproximadamente tres años en una empresa italiana, en Pisa.Unos meses después de aquel encuentro, emprendí mi viaje. Aquel proyecto me permitió conocer Italia, nuevos amigos, trabajar con distintos grupos de investigación, fue una etapa en la que aprendí muchísimo. Pero lo que más marcó mi futuro, fue la pasión que aquellos dos profesores mostraban por lo que hacían, su forma de trabajar en equipo, la manera en la que se preocupaban por que la gente con la que colaboraban estuviese a gusto. Todo aquello supuso el punto de partida de mi trabajo doctoral, decidí que quería volver a Valencia para poder trabajar con Benito y Vicente. A ellos les quiero expresar mi reconocimiento y mi gratitud por todo lo que han hecho por mí estos años. Espero que podamos seguir trabajando juntos por mucho tiempo. Que se sigan repitiendo mis visitas al despacho de Beni, y que sean muchas las reuniones en las que Vicente siempre encuentre alguna solución, y en las que, por muy duras que sean, siempre tengamos tiempo para hacernos unas risas. Sois dos investigadores extraordinarios, dos grandes amigos.Durante los dos primeros años tras mi vuelta a Valencia, mi trabajo estuvo siempre a caballo entre la Universitat de València y la Universitat Politècnica de València. No puedo evitar esbozar una sonrisa divertida al recordar los buenos momentos vividos en e...

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Finite element analysis for complex permittivity measurement of a dielectric plate and its application to inverse problem

Hirayama¹,

Hayashi²

2001

Electron. Comm. Jpn. Pt. II

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The resonant frequency and unloaded quality factor of a cylindrical cavity resonator are computed accurately by using the axisymmetric finite element method. Here the loss of both a dielectric sample and a shielding conductor is taken into account. A term with 1/r among the components of the finite element matrix is analytically integrated over a triangular ring quadratic element. Also, the inverse problem, that is, the estimation of the complex permittivity of a dielectric from a resonant frequency and an unloaded quality factor, is formulated and its usefulness is confirmed through some computed results for dielectric plates and deformed lossy sheets. © 2001 Scripta Technica, Electron Comm Jpn Pt 2, 84(5): 1019, 2001

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Finite-element analysis of the shielded cylindrical dielectric resonator

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MIC-environment dielectric resonator design and analysis

MIC-environment dielectric resonator design and analysis

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Finite element analysis for complex permittivity measurement of a dielectric plate and its application to inverse problem

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