2006
DOI: 10.1016/j.ssc.2005.11.018
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Growth and optical characterization of single quantum well structure of submonolayer ZnS/ZnTe

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
1

Citation Types

0
0
0
1

Year Published

2006
2006
2023
2023

Publication Types

Select...
4
1
1

Relationship

0
6

Authors

Journals

citations
Cited by 11 publications
(1 citation statement)
references
References 10 publications
0
0
0
1
Order By: Relevance
“…Сведения о реальной структуре тонкого слоя, которая зависит от элементного состава гетероструктуры, номинальной толщины слоя и технологии его роста, можно получить методами электронной микроскопии и оптической спектроскопии. Данные ряда работ [1][2][3][4][5][6][7][8][9] для гетероструктур типа II−VI, в частности, для системы CdTe/ZnTe с одной и той же номинальной толщиной узкозонного слоя, существенно различаются относительно энергетического положения и формы полосы излучения. Это свидетельствует о сильной зависимости реального строения тонкого слоя от технологических условий его формирования.…”
Section: Introductionunclassified
“…Сведения о реальной структуре тонкого слоя, которая зависит от элементного состава гетероструктуры, номинальной толщины слоя и технологии его роста, можно получить методами электронной микроскопии и оптической спектроскопии. Данные ряда работ [1][2][3][4][5][6][7][8][9] для гетероструктур типа II−VI, в частности, для системы CdTe/ZnTe с одной и той же номинальной толщиной узкозонного слоя, существенно различаются относительно энергетического положения и формы полосы излучения. Это свидетельствует о сильной зависимости реального строения тонкого слоя от технологических условий его формирования.…”
Section: Introductionunclassified