2022
DOI: 10.1109/ted.2022.3161614
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High-Yield and Uniform NbO x -Based Threshold Switching Devices for Neuron Applications

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“…23,30 All the devices exhibited reliable threshold switching after electroforming, consistent with previous reports. 2,31,32 As an example, Fig. 2(b) shows a representative electroforming (indicated by the black line in Fig.…”
Section: Resultsmentioning
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“…23,30 All the devices exhibited reliable threshold switching after electroforming, consistent with previous reports. 2,31,32 As an example, Fig. 2(b) shows a representative electroforming (indicated by the black line in Fig.…”
Section: Resultsmentioning
confidence: 99%
“…23,30 All the devices exhibited reliable threshold switching after electroforming, consistent with pre- vious reports. 2,31,32 As an example, Fig. We subsequently investigated the threshold switching characteristics of devices with different top electrode thicknesses and thermal conductivities.…”
Section: Resultsmentioning
confidence: 99%
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“…and volatile threshold switch (TS) memristors ( e.g. , BiOX, 8 N-doped TiO 2 , 9 VO 2 , 10,11 NbO 2 , 12,13 etc. ) have been recently developed to simulate the LIF behavior of neurons.…”
Section: Introductionmentioning
confidence: 99%
“…Key words: neuromorphic computing; memristor; threshold switching; stretchable; artificial neuron 人工智能和可穿戴等技术的发展迫切需要研制智 能穿戴电子设备,以满足健康监测、电子皮肤和人机交 互等领域的应用需求 [1][2][3] 。 受人脑的启发, 以人工神经元 为基础的神经形态计算器件以其高效信息处理功能及 低能耗等优点,而成为实现仿生智能芯片的理想选择 [4][5] 。为适应穿戴场景,开发能够模仿神经元信息功能的 柔性人工神经元是关键步骤 [6][7] 。 与传统用于构建人工神经元的刚性硅基电路相比, 具有阈值电阻转变特性的忆阻器因结构简单、材料选 择广泛和动力学特性丰富等优点,已成为构建柔性人 工神经元的理想选择 [8][9][10][11] 。例如,Xu 等 [12] 在柔性聚对 苯二甲酸乙二醇酯(PET)衬底上制备了最大弯曲半径 为 2.14 cm 的 Ag/Nafion/Au 阈值型忆阻器,并基于此 器件模仿了神经元的泄露-整合-发放(Leaky integrateand-fire, LIF)功能;刘琦等 [13] 在柔性聚酰亚胺(PI)衬底 上制备了最大弯折半径为 2.5 mm 的 NbOx 基阈值型忆 阻器,并结合电路设计模拟了 LIF 神经元。尽管在柔 性衬底上沉积刚性功能材料可使阈值型忆阻器具有一 定弯折能力,但因刚性材料缺少本征可拉伸性以及与 柔性衬底之间弹性模量不匹配,会导致器件在拉伸等 大形变过程中出现开裂失效问题,难以满足穿戴场景 的要求 [14][15][16] 。因此,如何研制可在拉伸应变下保持结 构和电学性能稳定的阈值型忆阻人工神经元器件成为 重要挑战。 近期研究表明,使用本征柔性的电极和介质层制 备可拉伸忆阻器为解决上述问题提供了重要途径 [13,16] 。 液态金属是一种本征弹性导电材料,由镓(Ga)、铟 (In) 等低熔点金属构成。它在室温下具有良好的导电性和 延展性,是制备柔性电极的理想选择 [17] 。例如,由掺 杂 Cu 微粒的 GaIn 合金(Cu@GaIn)制成的液态金属电 极,在 30%的拉伸应变下仍可保持出色的导电能力 [18] 。 另一方面,银纳米线-弹性聚合物复合材料是以弹性聚 合物基体为连续相,银纳米线为分散相的一种复合材 料。它不仅具有弹性聚合物的柔韧性,而且在电场作 用 下 还 具 有 阈 值 转 变 特 性 [19][20][21] 。 其 中 , 以 聚 氨 酯 (Polyurethane, PU)为代表的弹性聚合物拉伸性能优异, 是理想的弹性聚合物基体材料 [22][23] 液态金属(Cu@GaIn):首先将金属 Ga(99.99%) 和 In(99.995%)按质量比 3:1 混合,在 80 ℃下搅拌 45 min 制得 GaIn 合金。为了降低 GaIn 的表面能, 提高与聚合物介质层薄膜的浸润性 [24] ,在 GaIn 合 金中添加质量分数为 3.5%的 Cu 微粒(平均粒径: 我们研究了该器件产生阈值电阻转变特性的物理 机制。根据 Wang 等 [21] 的工作,在强电场作用下,分 散在聚合物基体中的银纳米线可通过氧化、迁移和还 原形成银纳米导电细丝,连通银纳米线和器件电极, 进而引起 HRS 到 LRS 的转变。而在弱电场下,银导 电细丝在表面张力和原子自发驰豫驱动下自发断裂, 是器件从 LRS 转变为 HRS 的主要原因。鉴于介质材 料成分的相似性,可以推断银纳米线间形成银导电细 丝的通断是诱导器件电阻转变的主要原因。 值得注意的是,完整导电细丝形成的边界条件是 获得导电单原子链,其呈现电导量子化特性,电导值 为 1 G0(根据朗道理论,G0 = 2e 2 /h,其中 e 为基本电 荷,h 为普朗克常数,对应 R0=12.9 kΩ) [25] 。通过对比 计算发现,在操作过程中,器件的 LRS 电阻值始终高 于 R0,如图 3(a)所示。这一结果表明当器件处于 LRS 时,形成了不连续的银导电细丝,电极之间的电荷传 输伴随着隧穿效应 [26] 。 基于以上分析, 我们提出了器件的工作机理模型。 如图 3(b-左)所示的纳米接触结构(银纳米线/聚氨酯/ 银纳米线) ,当施加正向电压时,顶部银纳米线中部分 Ag 原子会被氧化为 Ag + (Ag -e -→Ag + )。随后 Ag + 在电 场作用下通过 PU 迁移到底部银纳米线,并被还原为 Ag 原子(Ag + +e -→Ag)。随着 Ag 原子在底部的堆积, 银导电细丝在银纳米线之间逐渐生长 …”
unclassified