1996
DOI: 10.1557/s0883769400035739
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Intense Ion-Beam Treatment of Materials

Abstract: Over the past decade, researchers in Japan, Russia, and the United States have been investigating the application of intense-pulsed-ion-beam (IPIB) technology (which has roots in inertial confinement fusion programs) to the surface treatment and coating of materials. The short range (0.1–10 μm) and high-energy density (1–50 J/cm2) of these short-pulsed (t ≥ 1 μs) beams (with ion currents I = 5–50 kA, and energies E = 100–1,000 keV) make them ideal flash-heat sources to rapidly vaporize or melt the near-surface… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
4

Citation Types

0
9
0
5

Year Published

1999
1999
2018
2018

Publication Types

Select...
7

Relationship

0
7

Authors

Journals

citations
Cited by 105 publications
(20 citation statements)
references
References 31 publications
0
9
0
5
Order By: Relevance
“…The use of ceramics with gradient properties has great prospects, when the surface layer differs in its characteristics from the corresponding parameters of the bulk layers. As shown in works [11][12][13][14][15][16][17][18][19][20][21][22][23][24], surface treatment can be effectively carried out using low energy high current pulsed electron beam (LEHCPEB) [11][12][13], laser treatment [14,15] and high-power pulsed ion beam (HPPIB) [16][17][18][19][20][21][22][23][24]. To study thin modified layers of dielectrics, the method of secondary ion mass spectrometry [25][26][27] and the Rutherford backscattering method [28,29] have proved to be very useful.…”
Section: Introductionmentioning
confidence: 99%
See 2 more Smart Citations
“…The use of ceramics with gradient properties has great prospects, when the surface layer differs in its characteristics from the corresponding parameters of the bulk layers. As shown in works [11][12][13][14][15][16][17][18][19][20][21][22][23][24], surface treatment can be effectively carried out using low energy high current pulsed electron beam (LEHCPEB) [11][12][13], laser treatment [14,15] and high-power pulsed ion beam (HPPIB) [16][17][18][19][20][21][22][23][24]. To study thin modified layers of dielectrics, the method of secondary ion mass spectrometry [25][26][27] and the Rutherford backscattering method [28,29] have proved to be very useful.…”
Section: Introductionmentioning
confidence: 99%
“…They allow to carry out high-precision treatment of complex shaped ceramic parts with a short exposure time to the surface, are equipped with simple process automation, etc. Among radiation methods of influence on materials, the method of surface modification by highpower pulsed ion beams (HPPIB) [16][17][18][19][20][21][22][23][24] widely is used.…”
Section: Introductionmentioning
confidence: 99%
See 1 more Smart Citation
“…При этом способность МИП удалять вещество с об-лучаемой поверхности, т. е. вызывать ее эрозию, представляет большой интерес для исследовате-лей и создателей различных технологий обработ-ки материалов [1][2][3][4][5].…”
Section: Introductionunclassified
“…При этом способность МИП удалять вещество с об-лучаемой поверхности, т. е. вызывать ее эрозию, представляет большой интерес для исследовате-лей и создателей различных технологий обработ-ки материалов [1][2][3][4][5].Многочисленные экспериментальные иссле-дования показывают, что природа эрозии по-верхности под действием МИП ионов и электро-нов связана с сильным радиационным разогре-вом, вызываемым тормозящимися частицами, что приводит к испарению поверхности мише-ни [1][2][3]. Установлено, что интенсивность эро-зии, индикатором которой является коэффици-ент эрозии (т. е. количество атомов, удаленных с поверхности твердого тела, отнесенное к ко-личеству частиц пучка), на несколько порядков выше интенсивности столкновительного распы-ления поверхности твердого тела при непрерыв-ном облучении умеренными по плотности тока (J < 0,1 А/см 2 ) ионными пучками с аналогичны-ми значениями Е 0 [6][7][8][9].…”
unclassified