2014 Par une série de cycles alternés d'évaporation de Cs suivie d'une introduction contrôlée d'oxygène dans l'enceinte ultravide, on forme une mince couche Cs-O qui abaisse le travail de sortie de Ag polycristallin aux environs de 1 eV. Mais le seuil photoélectrique 03BBs ~ 1,2 03BCm ainsi obtenu n'est pas stable, et se déplace lentement vers les plus courtes longueurs d'onde. Toutefois, les valeurs du seuil initial et de la sensibilité spectrale S(03BB) de la photocathode peuvent être réobtenues aisément par introduction dans l'enceinte à ultravide d'une très faible quantité d'oxygène. Des analyses Auger de la couche superficielle Cs-O ont permis de montrer que cette couche est formée d'atomes adsorbés et non d'oxyde de Cs, que son épaisseur est de l'ordre de la monocouche, et que la variation des pics relatifs à Cs et O pendant le vieillissement, correspond à un appauvrissement en oxygène qui peut être compensé par régénération. Abstract. 2014 Controlled oxidation of successive Cs layers evaporated in sequence onto a polycristallin Ag surface decreases the work function down to 1 eV. Unfortunately, the corresponding wavelength threshold 03BBs ~ 1.2 03BCm is not stable and moves slowly towards lower values. However initial threshold and spectral sensitivity S(03BB) values can be fully recovered by injecting a tiny amount of oxygen in the UHV chamber. AES studies, performed with new, aged and regenerated Cs-oxide layers respectively, allowed to detect very small variations in the oxygen concentration and to show that the Cs-O layer is not made of Cs-oxide but of Cs and O adsorbed atoms, with a thickness corresponding to about one monolayer.