X-Radiolysis ion yields were measured at electric fields between 1 and 60 kV/cm in argon s t 87 OK, krypton at 148 OK, and xenon at 183 OK. The results were analyzed according to a theoretical model to obtain the total ion yields G,,,, the free ion yields at zero field strength GfiO and the most probable penetration ranges b of the secondary electrons in the liquids. The respective values were: Ar, 7.3, 2.9, 1330 A; Kr, 13.0, 5.8, 880 A; Xe, 13.7, 7.0, 720 A. The total ionization yields in these substances are greater in the liquid than in the gas phase, probably due to smaller ionization potentials in the condensed phase (polarization energy effect). Field dependent electron mobilities are also reported.Les rendements en ions libres produits par les rayons X dans l'argon a 87 OK, le krypton a 148 OK, et le xenon a 183 "K ont t t e mesurCs a des champs electriques allant de 1 a 60 kV/cm. Les resultats ont ete analysts l'a~de d'un modele theorique en vu d'obtenir pour chaque liquide le rendement total en ions, G,,,, le rendement en ions libres en l'absence de champ tlectrique, GfiO, et la distance de penetration la plus probable, b, pour les electrons secondaires. Les valeurs sont respectivement: Ar, 7.3, 2.9, 1330 A; Kr. 13.0, 5.8, 880 A; Xe, 13.7, 7.0, 720 A. Le rendement total en ions pour ces substances est plus eleve en phase liquide qu'en phase condensee (effect de l'energie de polarisation). Les mobilites electroniques en fonction du champ electrique sont presentees.Can. J . Chern.. 51. 641 (1973)