1992
DOI: 10.1002/mawe.19920230603
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Laserinterferometer zur berührungslosen Messung von Längenänderungen im Nanometer‐Bereich

Abstract: Ein Laser-Interferometer rnit einem rechnergestiitzten Auswerteverfahren wurde in einer Prototypentwicklung an eine kommerzielle Zugpriifmaschine angepa5t und erprobt. Mit Hilfe von als Meamarken dienenden Mikroharteeindrucken erlaubt dieses MeBsystem, Abstandsanderungen rnit einer Auflosung von etwa 1 Nanometer zu bestimmen. Die Funktionsfahigkeit dieser Me5anordnung wird an Beispielen der E-Modulmessung, der Bestimmung des RiBoffnungsverhaltens und des Warmeausdehnungskoeffizienten von Cu-Proben demonstriert… Show more

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“…Then we come to a question that how much this integrated signal coming from the crack length through measurement can represent the real situation at the crack tip. The purpose of the present study is to measure the crack opening data at different locations along the crack length with a laser interferometric technique, [8][9][10] to further our understanding of the fatigue crack closure mechanisms and the current closure evaluation methods.…”
Section: Introductionmentioning
confidence: 99%
“…Then we come to a question that how much this integrated signal coming from the crack length through measurement can represent the real situation at the crack tip. The purpose of the present study is to measure the crack opening data at different locations along the crack length with a laser interferometric technique, [8][9][10] to further our understanding of the fatigue crack closure mechanisms and the current closure evaluation methods.…”
Section: Introductionmentioning
confidence: 99%
“…Aus den erhaltenen Phasenwerten läßt sich die Abstandsänderung ôs der beiden Eindrücke zu χ δ S = Môs) + Ψ"((55)] --:-(6) 4π sin φ berechnen. Um ^(¿s) und ψ"((5.ϊ) zu gewinnen, wird jeweils eine diskrete Fourier-Transformation der Transformationslänge M(l) -M(0) für die /-te Spektrallinie berechnet und deren Argument ermittelt: M(l) DFT{y(n),M(l),M(0),l} = £ γ(ή)β~^η ( 7 ) n = M( arg {DFT {...}} = arctan 3 (DFT {...}) m(DFT{...})'(8) …”
unclassified