On comparison of NCR effectiveness with a reduced I/sub DDQ/ vector set

Variance Reduction and Outliers: Statistical Analysis of Semiconductor Test Data

“…The Neighbor Current Ratio (NCR) estimation technique originated from the idea that two neighboring fault-free dies on a wafer have similar I DDQ values [18]. Therefore, the ratios of quiescent current for the same vector on die neighbors for fault-free dies should be close to 1.…”

A current monitoring technique for I testing in digital integrated circuits

“…In addition to the previous techniques, methods based on statistical cluster analysis [15] and variance reduction of normal leakage current within smaller wafer regions [16] or wafer-level spatial analysis [17] have been proposed. Furthermore, the neighbor current ratio (NCR) method that combines wafer-level spatial correlation and current ratios has been proposed in [18,19] to sustain I DDQ testing. Moreover, considering the dependence of the leakage current on the applied input vector to the CUT [20], a method to select a proper set of I DDQ test vectors has been proposed so that low background current is achieved during testing [21].…”

Αναλογικές Τεχνικές Ελέγχου Ορθής Λειτουργίας CMOS Ολοκληρωμένων Κυκλωμάτων

“…Επίσης πρόσφατα έχει προταθεί και η μέθοδος του λόγου ρεύματος «περιοχής» (Neighbor Current Ratio -NCR) [165], [166] η οποία συνδυάζει τον λόγο ρευμάτων με την συσχέτιση των τιμών του ρεύματος I DDQ στις διάφορες περιοχές του δισκίου βελτιώνοντας την απόδοση της τεχνικής I DDQ . Επιπρόσθετα, λόγω της εξάρτησης του ρεύματος διαρροής από τα διανύσματα δοκιμής που εφαρμόζονται στις εισόδους του υπό δοκιμή κυκλώματος (CUT) [167], έχει προταθεί μια μέθοδος με την οποία επιλέγονται ως κατάλληλα διανύσματα δοκιμής από το σύνολο των διανυσμάτων δοκιμής I DDQ , εκείνα που παρέχουν μικρά ρεύματα διαρροής [168].…”