SnO 2 and SnS 2 thin films have been prepared by the spray pyrolysis technique for photovoltaic application purposes and characterized by high-frequency acoustic microscopy (570 MHz). The surface acoustic images reveal contrasts explained by differences in topography according to atomic force microscopy studies. The acoustic signature V (z) of the systems layer/substrate were modelled and refined to fit with the experimental V (z). The acoustic parameters of the layers were calculated using the results of the final simulation. The values of Young's modulus deduced from the acoustic parameters, 401 and 56 GPa for SnO 2 and SnS 2 , respectively, are discussed in relation with the chemical structure and bonding involved.PACS Nos.: 43.35Ns and 62.65Résumé : Utilisant la technique d'évaporation par pyrolise, nous préparons des films minces de SnO 2 et de SnS 2 pour des applications photovoltaïques et nous en déterminons les caractéristiques par microscopie acoustique à haute fréquence (570 MHz). Les images acoustiques de surface révèlent des contrastes que la microscopie à force atomique décrit comme étant des différences topographiques. Nous avons modélisé et raffiné la signature acoustique, V (z), de l'interface couche-substrat pour obtenir un meilleur accord avec la valeur expérimentale de V (z). Les paramètres acoustiques de la couche ont été calculés en utilisant les résultats de la simulation finale. Nous déterminons la valeur du module de Young pour le SnO 2 et le SnS 2 , respectivement 401 et 56 GPa et nous en analysons la relation avec la structure et les liaisons chimiques impliquées.