2014 Un nouveau mécanisme de l'accrochage (« pinning ») du niveau de Fermi à la surface des semiconducteurs est proposé. Il est basé sur l'examen de réactions chimiques électriquement actives qui crééent ou détruisent la charge de surface. La neutralisation mutuelle des réactions de charge et décharge conduit à l'accrochage du niveau Fermi. La compensation des écoulements de charges est due à l'inversion du type de conductivité en surface. Dans ce cas le niveau de Fermi est accroché au milieu de la bande interdite.