(Ukraine).Las características nanoestructurales de las capas finas policristalinas de SnO 2 determinan sus propiedades físicas y químicas como material sensor de gas. Se han analizado un conjunto de muestras (35nm -300nm) crecidas por pirólisis en fase aerosol sobre substratos de vidrio, estudiando la influencia de la temperatura de pirólisis (375ºC -530ºC) en la estructura cristalina de las capas. Estas muestras han sido caracterizadas mediante difracción de rayos X y microscopia electrónica de transmisión de alta resolución. Se han propuesto modelos atómicos de crecimiento, de estructura doble piramidal truncada y base rómbica, para las diferentes temperaturas de depósito.Palabras clave: SnO 2 capas finas, HRTEM, pirólisis en fase aerosol, estructura cristalina, sensor de gas semiconductor.
Evolution of the morphology and faceting of SnO 2 nanostructures deposited by spray pyrolysis on glass substrate.Nanostructural characteristics of polycrystalline SnO 2 thin films determine their psychical and chemical properties as semiconductor gas sensor. Tin oxide thin films obtained by spray pyrolysis deposition on glass substrates have been studied (35nm -300nm). We have studied the influence of the pyrolysis temperature (300ºC -530ºC) on the crystallographic structure of the films. These samples have been characterised by X-ray diffraction, and high-resolution transmission electron microscopy. Some atomic models of growing have been proposed, with a double pyramidal structure and rhombic base.