DOI: 10.11606/d.76.2005.tde-06052008-143921
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Propriedades ópticas de filmes finos de silício amorfo hidrogenado dopados com érbio

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“…A partir da realização deste estudo ficou estabelecido que, ainda que interessante, a matriz do aSi:H não é apropriada para a extração de radiação devida a íons Yb 3+ e/ou para investigar o processo de sensitização envolvendo os íons Er 3+ e Yb 3+ . Dentre vários fatores, isto deve-se ao caráter amorfo dos filmes e, principalmente, à coincidência entre os estados de cauda do a-Si:H e os níveis eletrônicos dos íons Yb 3+ [56,57]. (2000)].…”
Section: (A) (B)unclassified
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“…A partir da realização deste estudo ficou estabelecido que, ainda que interessante, a matriz do aSi:H não é apropriada para a extração de radiação devida a íons Yb 3+ e/ou para investigar o processo de sensitização envolvendo os íons Er 3+ e Yb 3+ . Dentre vários fatores, isto deve-se ao caráter amorfo dos filmes e, principalmente, à coincidência entre os estados de cauda do a-Si:H e os níveis eletrônicos dos íons Yb 3+ [56,57]. (2000)].…”
Section: (A) (B)unclassified
“…O estudo de filmes de a-Si:H dopados com íons Er 3+ foi retomado anos mais tarde, através do programa de Mestrado do Sr. Victor Oliveira [56]. Novas amostras foram preparadas por cosputtering e investigadas pelas técnicas de espectroscopia óptica, espalhamento Raman, foto-luminescência na região de ~ 700−1700 nm, e análises composicionais por feixes de partículas (energy dispersive x-ray, Rutherford backscattering, e elastic recoil detection).…”
Section: Erbium Luminescence From Hydrogenated Amorphous Silicon-erbiunclassified