2009
DOI: 10.1016/j.jnucmat.2008.12.291
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Recrystallized graphite behavior as the first wall material in Globus-M spherical tokamak

Abstract: Recrystallized RGTi graphite tiles were extracted from the first wall of the Globus-M spherical tokamak after being used as plasma-facing components (PFCs) during more than 8000 pulses (more than 800 s).The analysis of chemical composition and structure of the irradiated tiles was performed by different methods. It was found that most of the tiles were covered with mixed layers. In the deposits the amount of absorbed deuterium was measured and minimum D concentration was found in the region of maximum power lo… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
2
1
1

Citation Types

0
5
0
4

Year Published

2009
2009
2024
2024

Publication Types

Select...
6

Relationship

2
4

Authors

Journals

citations
Cited by 9 publications
(9 citation statements)
references
References 9 publications
0
5
0
4
Order By: Relevance
“…Морфология и элементный состав облицовочных плиток [7,8], пыли и крупных частиц, появив-шихся в результате эксплуатации Глобус-М в режиме рабочих разрядов и процедур очистки, были изучены на электронно-зондовом микроанализаторе Камебакс (фирма «Камека», Франция) методами растровой электронной микроскопии (РЭМ) и рентгеноспектрального микроанализа (РСМА) при ускоряющем напряжении 15 кВ и токе 1 нА. Глубина анализа элементного состава ~3 мкм для угле-родной матрицы и ~1 мкм для металлической.…”
Section: экспериментальная техникаunclassified
See 3 more Smart Citations
“…Морфология и элементный состав облицовочных плиток [7,8], пыли и крупных частиц, появив-шихся в результате эксплуатации Глобус-М в режиме рабочих разрядов и процедур очистки, были изучены на электронно-зондовом микроанализаторе Камебакс (фирма «Камека», Франция) методами растровой электронной микроскопии (РЭМ) и рентгеноспектрального микроанализа (РСМА) при ускоряющем напряжении 15 кВ и токе 1 нА. Глубина анализа элементного состава ~3 мкм для угле-родной матрицы и ~1 мкм для металлической.…”
Section: экспериментальная техникаunclassified
“…Рентгенофазовый анализ (РФА) образцов (5×10×5 мм), вырезанных из исходных и облучённых плиток [7,8], а также проб пыли и крупных частиц, был выполнен на дифрактометре ДРОН-3 с медной трубкой (λ Cu = 0,154 нм) и с графитовым монохроматором. Регистрация дифрагирующих пучков осуществлялась в интервале углов 2 от 10º до 90º с шагом 0,05º и временем экспозиции в каждой точке 1,5 с (глубина анализа составляла ~10 мкм для углеродной матрицы и ~5 мкм для металлической).…”
Section: экспериментальная техникаunclassified
See 2 more Smart Citations
“…These analyses confirm a successful growth of DLC layer on a S.S.316l substrate. Raman spectroscopy is an effective technique for the characterization of DLC structure due to its availability and non-destructive nature (27,28). The Raman spectra of the DLC deposited films, measured by 532 nm excitation wave length of Nd: YLF laser are shown in Figure 2.…”
mentioning
confidence: 99%