Scanning Electron Microscopy (SEM)  of the Bug Eye and Sand Coral

Sayid, Sayid Ali; Dadan-Garba, Aliyu; Enenche, Daniel Elaigwu; Ikyo, Barnabas A.

doi:10.4236/mr.2020.81001

Cited by 3 publications

(4 citation statements)

References 4 publications

Supporting

Mentioning

Contrasting

Unclassified

Order By: Relevance

“…(Gelardi, 2016 ;Flatt et al, 2012;Sha et al, 2020;Nadiger et al, 2019;Li et al, 2015). SEM adalah pendekatan yang sangat baik untuk memeriksa bahan organik dan anorganik pada skala mikrometer hingga skala nano, serta mengevaluasi struktur mikro dan morfologi suatu bahan (S. A Sayid et al, 2020). SEM-EDS, yang merupakan singkatan dari Scanning Electron Microscopy-Energy Dispersive X-ray Spectroscopy, dapat mendeteksi keberadaan C-S-H (kalsium-silikat-hidrat) dalam beton dengan menganalisis komponennya.…”

Section: Pendahuluanunclassified

Analisis SEM-EDS Beton Normal yang Menggunakan Superplasticizer

Zuriatni,

Sofyan,

Putri

et al. 2023

Borneo.Engineering

View full text Add to dashboard Cite

Beton merupakan bahan bangunan populer yang diakui kekuatan dan daya tahannya. Para peneliti telah mengeksplorasi penggunaan superplasticizer dan gel C-S-H untuk meningkatkan kualitas beton . Superplasticizer adalah bahan tambahan kimia yang dapat ditambahkan ke campuran beton untuk meningkatkan fluiditas sekaligus menjaga kekuatan. Hal ini memudahkan pemasangan dan meningkatkan kemampuan kerja beton. Selain itu, menambahkan gel C-S-H ke beton dapat meningkatkan kinerja jangka panjang dan meminimalkan retak. Formasi gel C-S-H pada kekuatan dan daya tahan beton diselidiki secara cermat dalam studi ini dengan melakukan pengujian foto SEM EDS. Pemindaian Mikroskop Elektron-Spektroskopi Sinar-X Dispersi Energi adalah alat analisis yang kuat untuk menentukan komposisi unsur dan bentuk bahan berskala nano. Ini menyelidiki permukaan material dengan berkas elektron terfokus dan menghasilkan sinyal yang dapat digunakan untuk mengidentifikasi dan memetakan distribusi komponen yang ada. Hasil Uji SEM-EDS menunjukkan Unsur senyawa Ca, Al dan Si mendominasi. Rasio Oksida SiO2/CaO yang tinggi pada sampel cenderung memiliki kuat tekan yang lebih tinggi. Sebaliknya, material dengan rasio SiO2/CaO yang lebih rendah menunjukkan kuat tekan yang lebih rendah.

show abstract

Section: Pendahuluanunclassified

Analisis SEM-EDS Beton Normal yang Menggunakan Superplasticizer

Zuriatni,

Sofyan,

Putri

et al. 2023

Borneo.Engineering

View full text Add to dashboard Cite

show abstract

“…Salah satu karakterisasi yang dapat dilakukan adalah dengan menggunakan Scanning Electron Microscope (SEM). SEM merupakan metode yang efektif dalam menganalisis bahan organik dan anorganik pada skala mikrometer hingga nanometer dan juga dapat melakukan evaluasi mikrostruktur serta morfologi suatu material [3].…”

Section: Pendahuluanunclassified

“…Beberapa mode SEM yang dapat digunakan untuk karakterisasi material adalah pemetaan X-Ray, Secondary Electron, serta Backscattered Electron Imaging dan mikroskop elektron Auger [3]. Pemilihan mode SEM tergantung pada tujuan yang diharapkan dari sampel yang dibentuk.…”

Section: Pendahuluanunclassified

Penggunaan SEM dan Image-J dalam Mempelajari Ketebalan Lapisan Mikrostruktur

Iqbal¹,

Firdaus²,

Fauzan³

et al. 2021

JAEE

View full text Add to dashboard Cite

Telah dilakukan penelitian terkait dengan ketebalan lapisan mikrostruktur dengan menggunakan SEM (Scanning Electron Microscope) dan Image-J. Sampel diuji dengan menggunakan SEM untuk mendapatkan mikrostruktur dari sampel. Setelah mikrostruktur didapatkan maka dilakukan analisa ketebalan lapisan mikrostruktur dengan menggunakan teknik pengukuran secara langsung menggunakan SEM dan teknik pengukuran tidak langsung menggunakan aplikasi Image-J. Berdasarkan hasil penelitian yang telah dilakukan, pengukuran ketebalan lapisan dengan menggunakan SEM dan Image-J menunjukkan pola kurva yang sama untuk semua ketebalan lapisan. Persentase perbedaan pengukuran ketebalan lapisan dengan menggunakan SEM dan Image J adalah 0.7% untuk lapisan ke-1, 1,6 % untuk lapisan ke-2 dan 0.8 % untuk lapisan ke-3. Persentase perbedaan tersebut sangat kecil (<2%) sehingga aplikasi Image-J ini dapat digunakan sebagai alternatif di dalam pengukuran ketebalan lapisan mikrostruktur

show abstract

“…It has allowed scientists to obtain a better knowledge of microstructure by offering samples with unparalleled optical magnification. Hence, this technique provided an accurate description of biological and nonbiological samples at the nanoscale (Sayid et al, 2020). SEM usually used in the describing of mosquito eggs (Schaper & Hernandez-Chavarría, 2006), however it has not been frequently used to explain and describe the exterior appearance and microstructures of fourth-instar larvae (Junkum et al, 2004), or adult mosquitoes (Kong & Wu, 2010).…”

Section: Introductionmentioning

confidence: 99%

Identification of some Fourth Instar Larvae of the Mosquito (Diptera, Culicidae) using Scanning Electron Microscope (SEM) in Basrah Province, Iraq

Abed

Kareem

2022

Basrah J. Agric. Sci.

View full text Add to dashboard Cite

The study was conducted to determine the distinguishing characteristics of the fourth-instar larvae that used to identify the six species of mosquitoes (Diptera: Culicidae) in Basrah Province. Some morphological characteristics, pectin teeth, comb scales, lateral palatine brush filaments, and microspine patterns on the siphon were studied by using the scanning electron microscopy technique. The results showed that there are morphological differences in these micro-structures between the species, Aedes caspius (Pallas, 1771), Culex pipines (Linnaeus, 1758), Culex pusillus Macquart, 1850, Culex tritaeniorhynchus Giles,1901, Culiseta longiareolata (Mecquart, 1838) and Uranotaenia unguiculata Edwards, 1913.

show abstract

Scanning Electron Microscopy (SEM) of the Bug Eye and Sand Coral

Cited by 3 publications

References 4 publications

Analisis SEM-EDS Beton Normal yang Menggunakan Superplasticizer

Analisis SEM-EDS Beton Normal yang Menggunakan Superplasticizer

Penggunaan SEM dan Image-J dalam Mempelajari Ketebalan Lapisan Mikrostruktur

Identification of some Fourth Instar Larvae of the Mosquito (Diptera, Culicidae) using Scanning Electron Microscope (SEM) in Basrah Province, Iraq

Contact Info

Product

Resources

About