2016
DOI: 10.4028/www.scientific.net/msf.858.777
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Silicon Carbide Schottky Rectifiers with Improved Avalanche Ruggedness

Abstract: Silicon carbide Schottky-barrier diode (SBD) rectifiers have been manufactured with low on-state voltages, high surge currents and high avalanche ruggedness. Non-destructive unclamped inductive switching currents of 188 A (mean) are achieved for the 1200 V 15 A rectifier. Very tight distribution of maximum sustained UIS current is confirmed. We relate improved avalanche ruggedness to bulk avalanche breakdown and show the breakdown pattern of the new Schottky rectifier being the same type as that for the p-n di… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
3
1
1

Citation Types

0
0
0
3

Year Published

2017
2017
2022
2022

Publication Types

Select...
8

Relationship

1
7

Authors

Journals

citations
Cited by 8 publications
(5 citation statements)
references
References 3 publications
0
0
0
3
Order By: Relevance
“…Test devices. The devices under test (DUTs) were 650 V, 30 A Silicon Carbide (SiC) Junction Barrier Schottky (JBS) diode chips, the 650 V version of Fairchild/ON Semi's JBS diodes earlier reported in [6]. The package is a standard TO247-housing.…”
Section: Devices Under Test and Test Proceduresmentioning
confidence: 99%
“…Test devices. The devices under test (DUTs) were 650 V, 30 A Silicon Carbide (SiC) Junction Barrier Schottky (JBS) diode chips, the 650 V version of Fairchild/ON Semi's JBS diodes earlier reported in [6]. The package is a standard TO247-housing.…”
Section: Devices Under Test and Test Proceduresmentioning
confidence: 99%
“…Further design optimizations were carried out to enable high avalanche ruggedness. This feature provides a competitive advantage for applications prone to unclamped inductive switching (UIS) [5,6]. The PWELL doping profile was engineered to provide a uniform avalanche distribution over the active area.…”
Section: Characterizationmentioning
confidence: 99%
“…Количественно устойчивость диодов к лавинному пробою принято характеризовать так называемой максимальной лавинной энергией (E av,max ), которая может быть рассеяна диодом до того, как происходит его катастрофический отказ (величину E av,max определяют, как правило, при пропускании через диод одиночного импульса лавинного тока). К настоящему времени на основе 4H-SiC разработаны силовые диоды Шоттки c JBS-структурой, в которых удельная величина максимальной лавинной энергии достигает нескольких Дж/см 2 [1][2][3] (площадь cиловых 4H-SiC диодов Шоттки составляет ∼ 0.1 см 2 ). Говоря об устойчивости p + −n 0 −n + -диодов к лавинному пробою, необходимо иметь в виду, что на их токовый перегрев существенное влияние должны оказывать условия теплоотвода, включая размеры и конфигурацию блокирующей n 0 -базы, где в лавинном режиме выделяется практически вся энергия.…”
Section: Introductionunclassified