“…Количественно устойчивость диодов к лавинному пробою принято характеризовать так называемой максимальной лавинной энергией (E av,max ), которая может быть рассеяна диодом до того, как происходит его катастрофический отказ (величину E av,max определяют, как правило, при пропускании через диод одиночного импульса лавинного тока). К настоящему времени на основе 4H-SiC разработаны силовые диоды Шоттки c JBS-структурой, в которых удельная величина максимальной лавинной энергии достигает нескольких Дж/см 2 [1][2][3] (площадь cиловых 4H-SiC диодов Шоттки составляет ∼ 0.1 см 2 ). Говоря об устойчивости p + −n 0 −n + -диодов к лавинному пробою, необходимо иметь в виду, что на их токовый перегрев существенное влияние должны оказывать условия теплоотвода, включая размеры и конфигурацию блокирующей n 0 -базы, где в лавинном режиме выделяется практически вся энергия.…”