2014 Le dispositif décrit permet une mesure du pouvoir thermoélectrique d'échantillons de faible dimension (quelques mm) entre 4 et 800 K. La mesure est assistée par une chaîne d'acquisition de données sous le contrôle d'un calculateur. Il est possible de mesurer le P.T.E. d'échantillons métalliques (S 10 03BCV/K) comme le P.T.E. d'échantillons semi-conducteurs à fort coefficient de Seebeck (S > 500 03BCV/K) avec une précision de 2 %. L'appareil a été testé sur un échantillon de fer électrolytique standard. Abstract. 2014 A method is described for measurements of the thermoelectric power of small samples in the temperature range 4-800 K. The help of a data acquisition system monitored by a calculator is required. Measurements may be performed on metallic samples (S 10 03BCV/K) as well as on semiconductors with high Seebeck coefficient (S > 500 03BCV/K) within an accuracy of 2 %. The device has been checked on a standard electrolytic sample.