Special features in the application of fractal analysis for examining the surface microrelief formed at face milling

Moskvin, P. P.; Balytska, Nataliia; Melnychuk, Petro; Rudnitskyi, V.A.; Kyrylovych, Valerii

doi:10.15587/1729-4061.2017.96403

Cited by 11 publications

(4 citation statements)

References 6 publications

(17 reference statements)

Supporting

Mentioning

Contrasting

Order By: Relevance

“…The volumes of the prisms under the elementary surface sites were calculated using the formulas of classical geometry and the data for the surface equations, which, in turn, were found by approximating the digital image of a real surface using the triangulation method [1][2][3][4]9]. The choice of this method for generating approximating surface equations was made due to its higher accuracy in comparison with the cube method.…”

Section: Specific Features Of Mf Spectrum Calculationsmentioning

confidence: 99%

Section: Specific Features Of Mf Spectrum Calculationsmentioning

confidence: 99%

“…It is reasonable to take advantage of the standard FA software Gwiddion [11] in order to make allowance for the influence of the specimen pixel size (or, equivalently, the side length of a square image subjected to the processing) on the values of the Rényi numbers [2][3][4]. The application of our MFA software program [2][3][4] for the same purpose would be time-consuming, especially if processing the images with large pixel sizes. At the same time, the Gwiddion software program performs calculations rather quickly, it has no special restrictions on the processed image size, and its results obtained for the Hausdorff dimension completely coincide with the results of our software.…”

Section: Specific Features Of Mf Spectrum Calculationsmentioning

confidence: 99%

“…We have accumulated a considerable experience in the experimental and theoretical studies of the surface layers of materials that were formed in a natural way during the film synthesis [1,2], as well as in the studies of the fractal structure of a periodic relief created after the application of cyclic methods of metal processing [3,4]. In the cited works, on the basis of the developed software, the multifractal (MF) spectra of the surface relief of the specimens were obtained, and their quantitative fractal parametrization was carried out.…”

Section: Introductionmentioning

confidence: 99%

See 3 more Smart Citations

Особливості досліджень поверхні плівок ZnO–SiO2 методом мультифрактального аналізу

Balytska,

Moskvin,

Skyba

et al. 2024

Ukr. J. Phys.

View full text Add to dashboard Cite

На прикладi мультифрактального аналiзу (МФА) зображень поверхонь наноплiвок, що синтезувалися золь-гель технологiєю в системi ZnО–SiO2, обговорюються особливостi застосування цього методу при отриманнi кiлькiсних характеристик поверхнi. Вхiдною iнформацiєю для реалiзацiї цього пiдходу до опису стану поверхонь були Second electron microscopy (SEM) зображення поверхнi зразкiв пiсля їх синтезу в заданих умовах. Чисельними розрахунками узагальнених статистичних сум для площi та об’ємiв просторових наноформ показано iснування їх лiнiйних залежностей вiд просторових розмiрiв, що є основним доказом наявностi самоподiбностi та фрактальної симетрiї серед зазначених геометричних параметрiв поверхнi. Наголошується на необхiдностi пiдвищення надiйностi визначення параметрiв МФ спектрiв та аналiзуються причини, що контролюють точнiсть абсолютних значень чисел Реньї. Вироблено рекомендацiї для мiнiмiзацiї похибок з метою отримання найбiльш вiрогiдних даних щодо МФ параметрiв поверхнi. Наведено залежностi чисел Реньї вiд температури синтезу шарiв ZnO–SiO2 золь-гель методом. Звертається увага на те, що для подальшого застосування результатiв МФА у фiзичних розрахунках необхiдно коректно вибирати тi числа Реньї, якi несуть у собi необхiдну iнформацiйну компоненту за модельованим фрактальним параметром. Обговорюються фiзичнi причини появи взаємозв’язку мiж параметрами МФ спектрiв для площi поверхнi та об’ємiв наноформ, що формуються на поверхнi плiвок, та умовами їх синтезу.

show abstract