2015
DOI: 10.1088/2053-1591/2/2/025006
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Structure and properties of ZnSxSe1−xthin films deposited by thermal evaporation of ZnS and ZnSe powder mixtures

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
2
1
1
1

Citation Types

0
6
0
4

Year Published

2016
2016
2023
2023

Publication Types

Select...
8

Relationship

0
8

Authors

Journals

citations
Cited by 16 publications
(10 citation statements)
references
References 31 publications
0
6
0
4
Order By: Relevance
“…Until now, a wide range of characterization studies of the ZnSSe thin films have been reported, including structural, electrical and optical properties variations in dependence of the S/Se ratio. 2,5,7,[10][11][12][13][14][15][16] Raman spectroscopy as such has been extensively used for investigating the lattice vibration dynamics in these systems. 12,14,17,18 Raman scattering is a powerful non-destructive method which can provide useful information on the structure, morphology and chemical composition of semiconductor materials, as well as on the photon-electron and electron-phonon interactions occurring in these materials.…”
Section: Introductionmentioning
confidence: 99%
“…Until now, a wide range of characterization studies of the ZnSSe thin films have been reported, including structural, electrical and optical properties variations in dependence of the S/Se ratio. 2,5,7,[10][11][12][13][14][15][16] Raman spectroscopy as such has been extensively used for investigating the lattice vibration dynamics in these systems. 12,14,17,18 Raman scattering is a powerful non-destructive method which can provide useful information on the structure, morphology and chemical composition of semiconductor materials, as well as on the photon-electron and electron-phonon interactions occurring in these materials.…”
Section: Introductionmentioning
confidence: 99%
“…Синтез наноструктур ZnS x Se 1-x проводился в вакуумных условиях (не хуже 10 -5 Па) методом термического испарения смеси порошков ZnS и ZnSe на пористые пленки оксида алюминия [20]. Состав наноструктур задавался молярным соотношением порошков в исходной смеси, которая засыпалась в тигель из нитрида бора.…”
Section: подготовка образцовunclassified
“…Элементный состав исследуемых образцов, полученных вакуумным термическим испарением смеси порошков ZnS и ZnSe на пористые матрицы АОА, практически не меняется с изменением параметров матрицы и идентичен составу тонких пленок, полученных в работе [8]. Таким образом, подложки из пористого АОА не оказывают заметного влияния на элементный состав наноструктур.…”
Section: результаты и обсуждениеunclassified
“…Методом вакуумного термического испарения успешно синтезированы наноструктуры ZnS x Se 1−x с использованием матрицы АОА в качестве темплата. Показано, что параметры пористой матрицы АОА (диаметр пор, расстояние между порами) не оказывают заметного влияния на элементный состав синтезированных наноструктур, который практически совпадает с элементным составом тонких пленок, полученных напылением на гладкую подложку [8]. При этом состав наноструктур близок к составу исходных порошков и может быть задан соотношением ZnS/ZnSe в исходной смеси.…”
Section: заключениеunclassified
See 1 more Smart Citation