2018
DOI: 10.18698/2542-1468-2018-1-88-93
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Studying the Topography of Materials on Cellulose Basis Using Atomic Force Microscopy

Abstract: Химическая переработка древесины Изучение топографии материалов на целлюлозной основе...

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
2
1

Citation Types

0
0
0
4

Year Published

2020
2020
2021
2021

Publication Types

Select...
2

Relationship

0
2

Authors

Journals

citations
Cited by 2 publications
(4 citation statements)
references
References 0 publications
0
0
0
4
Order By: Relevance
“…Атомно-силовой микроскоп обеспечил возможность получения прямого изображения рельефа поверхности в масштабе 3D. Обработка полученных результатов с применением специального встроенного программного обеспечения позволила рассчитать параметр Ra в полном соответствии с требованиями 1 . На топографических изображениях, полученных в режиме постоянной амплитуды, высота профиля передана цветом: чем выше находится деталь рельефа, тем она светлее.…”
Section: экспериментальные данныеunclassified
See 2 more Smart Citations
“…Атомно-силовой микроскоп обеспечил возможность получения прямого изображения рельефа поверхности в масштабе 3D. Обработка полученных результатов с применением специального встроенного программного обеспечения позволила рассчитать параметр Ra в полном соответствии с требованиями 1 . На топографических изображениях, полученных в режиме постоянной амплитуды, высота профиля передана цветом: чем выше находится деталь рельефа, тем она светлее.…”
Section: экспериментальные данныеunclassified
“…При обработке данных АСМ рассматривали выделенный профиль через наивысшую и наинизшую точки исследуемой поверхности. Длина отрезка прямой, на котором оценивали профиль поверхности, превышает длину базовой линии, предусмотренной в ГОСТ 1 .…”
Section: экспериментальные данныеunclassified
See 1 more Smart Citation
“…Для получения объективной оценки поверхности бумаги из карбоната кальция в нанометровом диапазоне использовали метод атомно-силовой микроскопии (АСМ) [13][14][15][16][17]. При помощи Качество печатной продукции, а именно контрастность изображения, точность цветопередачи, при многокрасочной печати зависит от оптических свойств, к которым можно отнести глянец, белизну бумаги и светонепроницаемость.…”
unclassified