“…Образец кристалла толщиной 4 mm, вырезанный по размеру волновода (2.6 × 5.2 mm 2 ), раз-мещался у короткозамкнутого конца волновода, и из-менение распределения поля в волноводе с кристаллом фиксировали по отношению к ненагруженному волно-воду [6]. В частотном диапазоне 90−150 GHz измере-ния ε проводили на субмиллиметровом спектрометре, построенном на лампе обратной волны [7]. Перестраи-ваемое по частоте монохроматическое излучение рас-пространялось в свободном пространстве в виде пуч-ка диаметром 40 mm, формируемого диэлектрическими линзами, и падало нормально на плоскость образца сечением 10.70−12.43 mm 2 и толщиной 5.22 mm.…”