Auf der Grundlage der semicmpirischan dielektrischen Strukturtheorie wurde ein empfindlicher Parameter gefunden, dcr es gestattet, die relative Stabilitat der Zinkblende und Wurtzitstruktur in Epitaxieschichton von AIIBvI-Verbindungen auf (1 11)-orientierten AIIIBV-, Si-und Ge-Substraten vorherzusagen.. Die Ergebnisse des vorgeschlagenen theoretischen Modells befinden sich in guter obereinstimmung mit den Experimenten.On the basis of the semiempirical dielectric theory of structure a sensitive parameter accounting for the relative stability of the zincblende and tho wiirtzite structure i n epitaxial layers of AIIBvI-compounds on (1 11)-orientated AIIIBV, Si, and Ge substrates is introduced. The statemonts of the proposed theoretical model are in good agreement with the experiment,al rcsu1t.s.