The line intensity of Kossel reflections of various single crystals ( A l , A2, B3, B4 and C16 type of structure) has been studied experimentally as well as theoretically. In contrast to earlier results high excess intensity of experimental Kossel lines can be explained solely by dynamical diffraction effects without an additional consideration of real structure effects. It has been shown that the different maxima of intensities of Kossel lines found above all result from the different line width, depending strongly on the X-ray wavelength used (2 = 0.47 -8.34 A): Sole convolution of the theoretical profiles partly transforms the differences in the line width into variation of height.Es erfolgt eine Untersuchung der Linienintensitat von Kosselreflexen unterschiedlicher Einkristalle (Al, A2, B3, B4 und C16 Strukturtyp) sowohl experimentell als auch..theoretisch. Im Gegensatz zu friiheren Annahmen ergab sich, daR experimentelle Kossellinien hohe UberschuRintensititen besitzen konnen, die sich allein aus der dynamischen Beugungstheorie ergebenohne zusatzliche Berucksichtigung moglicher Realstruktureffekte. Es zeigte sich, daR die unterschiedlichen Maximalintensitaten experimenteller Kossellinien vor allem durch die mit der Wellenlange (i = 0.47 -8.34 A) der charakteristischen Rontgenstrahlung stark variierende Breite der Profile verursacht wird: Lediglich der notwendige FaltungsprozeR transformiert unterschiedliche Linienbreiten teilweise in Hohenunterschiede.