2017
DOI: 10.17586/2220-8054-2017-8-1-137-145
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

The polymer composites’ morphological structure simulation

Abstract: The digital two-dimensional Fourier decomposition of surface scanning electron microscopy (SEM) micrographs is used to detect the regular morphological structures on a polymer composite surface. Analyzing the SEM images of fluorinated and sulfonated low density polyethylene (LDPE), we identify and specify both regular and irregular submicron surface structures. The possibility of similar information processing techniques generalization for the morphological simulating of modified polymers bulk structures is di… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
1
1

Citation Types

0
5
0
5

Year Published

2019
2019
2024
2024

Publication Types

Select...
7

Relationship

4
3

Authors

Journals

citations
Cited by 9 publications
(10 citation statements)
references
References 18 publications
0
5
0
5
Order By: Relevance
“…Оптические изображения микозагрязнённых поверхностей были подвергнуты количественной характеризации в соответствии с методикой, разработанной для количественного анализа СЭМ-изображений [43][44][45][46] и применявшейся ранее [9,47,48]. Согласно этой методике текстура поверхности рассматривается как суперпозиция двумерных пространственных решёток кратных периодов.…”
Section: объекты и методы исследованияunclassified
“…Оптические изображения микозагрязнённых поверхностей были подвергнуты количественной характеризации в соответствии с методикой, разработанной для количественного анализа СЭМ-изображений [43][44][45][46] и применявшейся ранее [9,47,48]. Согласно этой методике текстура поверхности рассматривается как суперпозиция двумерных пространственных решёток кратных периодов.…”
Section: объекты и методы исследованияunclassified
“…SEM-images of polymer fiber groups for initial (A) and oxyfluorinated (B) with a gas mixture of 7.5% F 2 + 10% O 2 + 82.5% He Finally, at the maximum magnification for the Jeol7500F (Fig. 10), it is possible to fix and then model the nanotextures of the original and oxyfluorinated nonwoven fibers using the original method of the quantitative SEM-images analysis developed earlier [19][20][21]. The characteristic size for one pixel in this case is ∼1 nm.…”
Section: Multi-scale Structural Analysis Of Nonwoven Fabricsmentioning
confidence: 99%
“…Для визуализации нанотекстуры экспериментальных образцов часто используется сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) [24][25][26]. Поскольку выводы о степени морфологической гетерогенности изучаемой поверхности могут сильно зависеть от степени детализации соответствующих СЭМ-изображений для их количественного анализа ранее был разработан комплексный метод, представленный в [27][28][29][30]…”
unclassified
“…в 3,75 раза больше). Следовательно, вариационно-ротационный подход может оказаться достаточно эффективным инструментом характеризации морфологии поверхности, которая определяет некоторые функциональные свойства поверхности (смачивание, адгезию, коэффициент трения) [27][28][29][30][31][32][33].…”
unclassified