X-Ray Raman Scattering. III. The Angular Dependence of the Scattering Intensity

Resonating Hartree–Fock Approach for Electrons Confined in Two Dimentional Square Quantum Dots

“…At the present level of statistical accuracy, no evidence was found for the existence of extended oscillations beyond the Raman peak, which Popescu (1979) observed in the data on beryllium and boron published by Suzuki and Nagasawa (1975). Since Popescu (1979) claimed to be able to extract structural information from these oscillations, in analogy to the familiar EXAFS technique, it would clearly be useful to try to confirm these results using a spectrometer with improved resolution and statistical accuracy.…”

“…Earlier experiments of this type (see e.g. Suzuki and Nagasawa 1975) have been handicapped by the limited resolution of the analysing system, which consisted of a plane-cut single crystal operated in a step-scan mode together with Soller slits of 0.1 O divergence.…”

Inelastic scattering of x-ray and synchrotron radiation in crystals, coherent effects in inelastic scattering

“…•lApX^n-длины волн пиков рэлеевского, комп» тоновского и комбинационного рассеяний соответ-ственно. углах 125 . При дальнейшем же увеличении •& интенсивность КР доходила до некоторой максимальной, а затем начинала уменьшаться, что может быть объяснено 125 , если учесть третий и четвертый члены в разложении ехр (Г кг) в матричных элементах переходов | г>-> | I)…”

“…Александропулос 127 наблюдал также в длинноволновой части спектра HP излучений Си К а и Сг К а в кристаллах LiF и NaCl линии с энергией, отстоящей от энергии первичного излучения на 5 эв для LiF и на 2 эв для NaCl, положение и форма которых не менялась при углах •& ~ 16-84°. Этот эффект интерпретируется как комбинационное рассеяние на /^-цен-трах, образуемых при длительном облучении кристаллов рентгеновским излучением Си К а и может быть использован для изучения процесса *) Бабушкин 133 получил для сечения КР комптон-подобную угловую зависи-мость -(1 + cos 2 #)/[l -f sin 2 0672)]*, что находится в противоречии с результатами экспериментов 125 и расчетов 122 . Также ошибочен его вывод о дебай-валлеровской зависимости сечения КР от температуры образца.…”

Determination of the Al content in aluminum‐modified SiO2 stationary phases using X‐ray scattering spectroscopy

“…A third type of scattering exists: Raman scattering, which was first observed by the Indian researcher C. V. Raman using sunlight. [9] In the 1960s, Japanese researchers discovered a similar effect for X-ray radiation (denoted as X-ray Raman scattering), and between 1967 and 1975, various papers were published [10][11][12][13] proving the existence of small variations (Raman scattering) close to the Compton and Rayleigh scattering bands in X-ray spectra of samples with elements of low Z. Mizuno and Ohmura [11] have published theoretical considerations, whereas Suzuki [10] has experimentally proven this type of scattering by using pure samples of lithium, beryllium, boron and carbon. Kazuyuki and Udagawa [14] have shown the possibility to obtain structural parameters through the oscillation of Raman scattering.…”