2017
DOI: 10.21883/ftp.2017.02.44095.8129
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Особенности зонной структуры и механизмов проводимости полупроводника n-HfNiSn, сильно легированного Y

Abstract: Исследованы кристаллическая и электронная структуры, энергетические, кинетические и магнитные характеристики полупроводника n-HfNiSn, сильно легированного акцепторной примесью Y, в диапазонах: T=80-400 K, NAY~1.9·1020-5.721 см-3 (x=0.01-0.30) и H≤10 кГс. Установлена природа механизма генерирования структурных дефектов, приводящего к изменению ширины запрещенной зоны и степени компенсации полупроводника, суть которого в одновременном уменьшении и ликвидации структурных дефектов донорной… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
1
1
1
1

Citation Types

0
0
0
8

Year Published

2018
2018
2022
2022

Publication Types

Select...
5

Relationship

1
4

Authors

Journals

citations
Cited by 5 publications
(8 citation statements)
references
References 3 publications
0
0
0
8
Order By: Relevance
“…Натомість, за умови часткового зайняття атомами V кристалографічної позиції 4а атомів Zr (4d 2 5s 2 ) у кристалі будуть також генеруватися структурні дефекти донорної природи, оскільки у V більше dелектронів. Це приведе до появи енергетичних рівнів домішкової донорної зони і спричинить реалізацію у ZrNi 1-х V x Sn змішаної провідності за участю донорно-акцепторних пар [13]. При цьому знак коефіцієнта термо-ерс α(Т,х) ZrNi 1-х V x Sn та тип основних носіїв струму визначатиме співвідношення концентрацій генерованих у напівпровіднику структурних дефектів акцепторної та донорної природи.…”
Section: дослідження кристалічної та електронної структур Zr 1-x unclassified
“…Натомість, за умови часткового зайняття атомами V кристалографічної позиції 4а атомів Zr (4d 2 5s 2 ) у кристалі будуть також генеруватися структурні дефекти донорної природи, оскільки у V більше dелектронів. Це приведе до появи енергетичних рівнів домішкової донорної зони і спричинить реалізацію у ZrNi 1-х V x Sn змішаної провідності за участю донорно-акцепторних пар [13]. При цьому знак коефіцієнта термо-ерс α(Т,х) ZrNi 1-х V x Sn та тип основних носіїв струму визначатиме співвідношення концентрацій генерованих у напівпровіднику структурних дефектів акцепторної та донорної природи.…”
Section: дослідження кристалічної та електронної структур Zr 1-x unclassified
“…Установлено, что охлаждение покрытия с содержанием кадмия 47. 4 или сильно легированного полупроводника. Воспроизводимость результатов высокая.…”
Section: материал и методика экспериментаunclassified
“…Последние годы отмечены значительными успехами в совершенствовании известных полупроводниковых соединений [1], а также в поиске новых полупроводниковых материалов [2][3][4][5][6]. При этом использование для данной цели магнетронных технологий открывает новые возможности [7,8].…”
Section: Introductionunclassified
“…Зважаючи на невисоку температуру плавлення Стануму (505,05 K), більшість вивчених потрійних систем R-M-Sn ( М -d-елемент) досліджені за температури 670 K [12]. Використання в ході дослідження вищої температури відпалу для деяких систем R-{Cu,Ag}-Sn і R-Ni-Sn засвідчило вплив температурного фактору на стабільність тернарних сполук з високим вмістом стануму [13][14][15].…”
Section: вступunclassified
“…Порівняльний аналіз дослідженої потрійної системи Gd-Mn-Sn з раніше вивченими {Y, Ce, Dy}-Mn-Sn та відомими в літературі тернарними сполуками [12] показав, що для систем R-Mn-Sn характерно утворення невеликої кількості сполук. Сполуки структурних типів CeNiSi 2 та Gd 3 Cu 4 Ge 4 утворюються тільки в системах з рідкісноземельними елементами церієвої підгрупи.…”
Section: результати експериментуunclassified