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Die Flugzeit‐Sekundärionen‐Massenspektrometrie (ToF‐SIMS) ist eine sehr oberflächenempfindliche Analysemethode, die in vielen wissenschaftlichen und industriellen Bereichen eingesetzt wird. Sie dient zur Identifikation und Lokalisation des Elementinventars sowie der vorliegenden organischen und anorganischen Verbindungen auf Festkörperoberflächen.Die Oberflächeninformationen werden aus Massenspektren gewonnen, in denen aufgrund der sehr hohen Massenauflösung des Instruments (m/Δm > 5.000) sogar zwischen Spezies gleicher nomineller Masse unterschieden werden kann. Zusätzlich können laterale Oberflächenverteilungen gemessen werden, die eine Lokalisation chemischer Spezies mit einer Auflösung < 1μm zulassen.Mit Hilfe multivariater Modelle lassen sich die massenspektrometrischen Signale mit physikalischen Oberflächeneigenschaften (wie z. B. Benetzungsverhalten, Elementkonzentrationen, Reibverhalten etc.) korrelieren. Daraus können häufig entscheidende Hinweise über die Funktion der untersuchten Oberflächenstruktur abgeleitet werden. Die Flugzeit‐Sekundärionen‐Massenspektrometrie wird damit zu einem unverzichtbaren Hilfsmittel für die Entwicklung funktionaler Oberflächen, die wiederum Grundlage vieler neuer und innovativer Produkte sind.