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2014 On donne les détails de construction et de mise en oeuvre d'un appareillage permettant de préparer par bombardement ionique uniforme des surfaces de 0,6 cm2 (ou plus, ces surfaces n'étant limitées que par le débit du groupe de pompage), sur des échantillons micrographiques conducteurs ou isolants. On décrit également l'adaptation de ce dispositif à l'amincissement d'échantillons massifs destinés à l'examen direct par transmission au microscope électronique. Abstract. 2014 The details of desing and setting up of an apparatus which allows the preparation of conducting or insulating micrographic samples by uniform ionic bombardement are given. The average surface area subjected to bombardement may be 0.1 Sq. In. or greater being limited only by the speed of the vacuum pump. The adaptation of this device for making thinner samples of bulk materials meant for direct examination by transmission electron microscopy is also described.

On détermine le diamétre limite de la médiane des diamétres de cristaux, dans les agrégats polycristallins de ferrites de MnZn et de NiZn, en fonction de leur porosité. Nous montrons qu'au fur et à mesure que la médiane tend vers le diamétre limite calculé, l'écart quadratique moyen des diamétres de cristaux diminue puis, lorsque les joints se décrochent des pores, reprend sa valeur initiale. On traite ensuite de l'arrêt de la migration des joints de cristaux en présence d'inclusions. En particulier, nous mettons en évidence que, dans les ferrites de MnZn, 0,05% de SiO2 suffit pour bloquer la croissance des cristaux et provoquer une recristallisation anormale à la mise en solution des inclusions. On présente des cas analogues dans les ferrites de baryum en présence de diverses inclusions. Enfin, nous montrons que dans tous les cas étudiés où le diamètre des cristaux de ferrites semblait être fonction de la composition, cette variation de diamètre était due à la présence de pores ou d'inclusions.